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QTJ8600T功率半導體器件測試機功率半導體器件測試機

實現(xiàn)全自動化測試過程，滿足不同器件測試對測試機的要求。

本產(chǎn)品為IGBT、SiC等功率半導體器件提供全套功率測試解決方案，可高效實現(xiàn)從晶圓級到最終產(chǎn)品的ISO、DC、AC等全套測試，實現(xiàn)全自動化測試過程，并配置豐富的測試接口和功能模塊選擇，滿足不同器件測試對測試機的要求。

QTJ8600T功率半導體器件測試機功率半導體器件測試機產(chǎn)品特點

• 01測試范圍

  AC測試：1500V/4000A，DC測試：2000V/2000A

• 02測試功能

  接觸可靠性測試、ISO測試、DC測試、AC測試等

• 03測試對象

  SiC/IGBT 晶圓、芯片、單管、模塊，針對不同封裝定制測試治具

• 04測試過程

  全自動化測試過程，自動生成數(shù)據(jù)報表

• 05回路雜感

  <15nH，不含待測對象及socket

• 06保護功能

  過流保護閾值可設置，保護時間<2us

• 07測試效率

  UPH>200，具體依據(jù)實際測試對象及測試項目確定

• 08測試流程

  可根據(jù)具體要求對測試功能模塊進行選擇和測試流程變更

• 09運行模式

  可根據(jù)不同測試要求選擇各功能并行或者異步模式運行

供電電源電壓220V±10%(單相+PE)，50Hz±10%，10kW

測試對象SiC/IGBT 晶圓、芯片、單管、模塊

測試項Kelvin，ISO，SW，SC，Qg，DC，RgCg ，UIS等

AC測試最大電壓電流1500V，多脈沖 4000A，短路12000A@10us

DC測試最大電壓電流2000V，2000A

UIS測試最大電壓電流3000V，200A

RgCg測試電壓Vds：1500Vmax，Vgs ：±40V

AC測試雜感＜15nH，不包含被測器件及socket

AC測試過流保護＜2us

測試效率UPH>200，具體依據(jù)實際測試對象及測試項目確定