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目錄:深圳市新瑪科技有限公司>>表面輪廓儀>>布魯克臺階儀>> DEKTAK XT布魯克臺階儀/表面輪廓儀

DEKTAK XT布魯克臺階儀/表面輪廓儀
  • DEKTAK XT布魯克臺階儀/表面輪廓儀
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參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 Alicona/奧地利
  • 型號
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 深圳市
屬性

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更新時間:2024-01-28 17:00:44瀏覽次數(shù):1919評價

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產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 化工,能源,電子,電氣
DEKTAK XT布魯克臺階儀/表面輪廓儀臺階儀主要用于材料表面的2D,3D測量,可以測試臺階高度,表面粗糙度;同時也適合材料表面溝槽深度的測試;能夠在微電子,半導(dǎo)體及化合物半導(dǎo)體,太陽能、超高亮度發(fā)光二極管(LED)、OLED、ITO、微流控、醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)等行業(yè)實現(xiàn)納米級表面形貌測量。Dektak臺階儀測量薄膜材料可以達(dá)到埃級重現(xiàn)性和1nm-1mm的測量范圍。

DEKTAKXT布魯克臺階儀/探針式表面輪廓儀)可以提供更高的重復(fù)性和分辨率,測量重復(fù)性可以到5?。臺階儀這項性能的到了過去四十年Dektak技術(shù),更加鞏固了其行業(yè)。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量,通過在研究工作中的廣泛使用,DektakXT能夠做到功能更強(qiáng)大,操作更簡易,檢測過程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺階儀(探針式表面輪廓儀)的技術(shù),使納米尺度的表面輪廓測量成為可能,從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件,半導(dǎo)體,電池,高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。

DEKTAKXT布魯克臺階儀/探針式表面輪廓儀)

  1、使用溫度條件:10-30℃;

  2、臺階高度重現(xiàn)性低于4A

  3、Single-arch設(shè)計提供掃描穩(wěn)定性

  4、*的“智能電子器件"設(shè)立了新低噪音基準(zhǔn)

  5、新硬件配置使數(shù)據(jù)采集時間縮短

  6、64-bit,Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件,使數(shù)據(jù)分析速度高了10倍

  7、頻率,操作簡易

  8、直觀的Vision64用戶界面,操作簡易

  9、針尖自動校準(zhǔn)系統(tǒng)

 1968年臺階儀DektakⅠ面世以來,迄今已有50多年的發(fā)展歷程。通過整合技術(shù),突破創(chuàng)新,Dektak系列臺階儀已經(jīng)來到了第十代,目前我們主要有兩種型號:桌面式DektakXT(圖1),樣品兼容可到8寸;另外一款是集成了防震臺一體化的落地式DektakXTL,它的兼容樣品可以達(dá)到12寸(圖2)。布魯克第十代Dektak產(chǎn)品在過去五十年不斷的技術(shù)創(chuàng)新,得到眾多使用客戶的認(rèn)可。

  DektakXT是使用single-arch設(shè)計的探針輪廓儀,single-arch設(shè)計及智能電子器件,大大改善了設(shè)備穩(wěn)定性,進(jìn)一步提高防震性能。DektakXT在測量臺階高度重復(fù)性方面具有優(yōu)異的表現(xiàn),臺階高度重復(fù)性可低于4?。使用single-arch結(jié)構(gòu)比原先的懸臂梁設(shè)計更加穩(wěn)固,降低了對不利環(huán)境條件的敏感性,如聲音和震動噪音。


  對多用戶儀器而言,能快速輕松更換探針以適應(yīng)不同應(yīng)用是必要的。Dektak臺階儀的轉(zhuǎn)接頭和探針通過強(qiáng)磁吸附進(jìn)行連接,在探針更換工具的配合下,更換探針簡單、方便、易操作(圖3)。DektakXT新的針尖自動校準(zhǔn),消除任何潛藏的針尖更換/校準(zhǔn)隱患。這一技術(shù)讓其他困難并耗時的任務(wù)變得輕松且快速。為盡量滿足使用的要求,Bruker提供了范圍廣泛的標(biāo)準(zhǔn)和客戶定制探針規(guī)格,包括用于深溝渠測量的高徑比針尖。


  作為探針式表面輪廓儀核心的部件—傳感器,DektakXT采用LVDT傳感器原理,即LinearVariableDifferentialTransformer線性可變差動變壓器(圖4),其優(yōu)勢包括:無摩擦測量、延長機(jī)械壽命、提高分辨率、零位可重復(fù)性、軸向、堅固耐用、環(huán)境適應(yīng)性、輸入/輸出隔離。

數(shù)據(jù)采集和分析速度

  直接驅(qū)動掃描平臺,DektakXT減少了掃描間的時間,而沒有影響分辨率和背景噪聲。這一改進(jìn)大范圍掃描3D形貌或者對于表面應(yīng)力長程掃描(就探針輪廓儀而言,通常是耗時的)的掃描速度。在行業(yè)的質(zhì)量和重現(xiàn)性前提下,DektakXT可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度。另外,DektakXT采用Bruker64-bit數(shù)據(jù)采集分析同步操作軟件Vision64,它可以大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度,并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描是的數(shù)據(jù)分析。Vision64還具有行業(yè)內(nèi)的直觀用戶界面,簡化了實驗操作設(shè)置,自動完成多掃描模式,讓重復(fù)和常規(guī)的實驗操作變得更快速簡潔。。

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