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AFM探針/力學測量/楊氏模量/RTESPA-150AFM探針,原子力顯微鏡探針,veeco探針,Bruker探針
AFM探針/力學測量/楊氏模量/RTESPA-525AFM探針,原子力顯微鏡探針,veeco探針,Bruker探針
原子力顯探針/力學測量/楊氏模量/ DNISP-HSAFM探針,原子力顯微鏡探針,veeco探針,Bruker探針
納米力學測試系統(tǒng)TI 980一臺優(yōu)異納米力學測試儀器所需的要求,實驗上的靈活度與可實現(xiàn)性,測量穩(wěn)定性,以及系統(tǒng)設(shè)計的模塊化。
Hysitron 納米力學測試系統(tǒng)可以采用TI Premier 的多種基本配置完成常規(guī)測量的研究,同時多樣化的升級選項可以滿足您未來表征的潛在多樣性的需求。
原子力顯微鏡MultiMode是受歡迎的掃描探針顯微鏡,得到客戶的高度,迄今為止數(shù)以萬計的MultiMode®掃描探針顯微鏡已經(jīng)在成功安裝使用。
掃描探針顯微鏡Innova同類AFM中具有低的噪音水平和高的分辨率Innova掃描探針顯微鏡(SPM)具有很高的分辨率,實用性強,從器件表征到物理化學、生命科學...
原子力顯微鏡Dimension FastScanDimension FastScan 原子力顯微鏡 (AFM)在不損失Dimension® Icon&...
原子力顯微鏡Dimension Icon原子力顯微鏡Dimension Icon( Bruker Dimension® Icon™ ) 是...
生物型原子力顯微鏡NanoWizard® 4 XP BioScience 是一款專為生物科學研究打造的具有更高性能與更高靈活性的生物型原子力顯微鏡
布魯克電荷靈敏前置放大器 CUBE布魯克電荷靈敏前置放大器 CUBE(立方)是一種以脈沖復(fù)位模式運行的單片電荷靈敏式前置放大器,借助外部電阻器,也可以以連續(xù)復(fù)位...
DANTE數(shù)字脈沖處理器DANTE數(shù)字脈沖處理器伽馬射線探測器信號,數(shù)字脈沖處理器,前置放大器芯片,X射線信號,前置放大器芯片,SDD探測器,同步輻射光源。
薄膜測厚儀MProbe系列反射光譜干涉法是一種非接觸式、無損的、快速的光學薄膜厚度測量技術(shù)。
反射膜厚儀MProbe VisMProbe Vis薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。
反射膜厚儀MProbe UVVisSRMProbe UVVisSR薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。
反射膜厚儀MProbe RT該機大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。
反射膜厚儀MProbe NIR采用近紅外光譜(NIR)的測厚儀可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應(yīng)用領(lǐng)域,比如在可見光范圍內(nèi)有吸收的太陽能薄膜(CIGS,...
顯微反射膜厚儀MProbe MSPMProbe MSP顯微薄膜測厚儀適用于實時在線測量,多層測量,非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料),新材料可以...
涂層測厚儀SURFIX®X系列測量儀器: 彩屏, PC 連接,易操作,以及適合PHYNIX探頭
涂層測厚儀SURFIX®系列用于鋼/鐵以及有色金屬的清漆、油漆和電鍍以及陽氧化涂層的快速測量
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