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工業(yè)CT通用檢測(cè)系統(tǒng)XRH222既滿(mǎn)足常規(guī)檢測(cè)又滿(mǎn)足檢測(cè)分析，例如自動(dòng)缺陷識(shí)別（ADR）和計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）。

工業(yè)CT重型檢測(cè)系統(tǒng)XRH222TL工業(yè)CT重型檢測(cè)系統(tǒng)XRH222TL是專(zhuān)門(mén)用于重型和大型零件的X射線檢測(cè)系統(tǒng)。

工業(yè)CT頂部安裝檢測(cè)系統(tǒng)XRHGantry是高度靈活的系統(tǒng)，可以靈活的檢測(cè)大型或復(fù)雜零件。

工業(yè)CT便攜式系統(tǒng)XRHM obile超堅(jiān)固和高度移動(dòng)的數(shù)字成像（DR）系統(tǒng)，用于無(wú)損檢測(cè)。

工業(yè)CT緊湊全能型系統(tǒng)XRH111可用于CT和ADR等檢查任務(wù)。

布魯克 X射線鍍層測(cè)厚儀M1 ORA是適用于珠寶行業(yè)的臺(tái)式X射線鍍層測(cè)厚儀，結(jié)構(gòu)緊湊、占用空間小。

鍍層測(cè)厚儀M1M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術(shù)的光譜儀，可對(duì)大件樣品和鍍層樣品進(jìn)行準(zhǔn)確的分析。分析的元素范圍：原子序數(shù)22號(hào)（鈦）-92號(hào)（鈾）中的元素...

大尺寸鍍層測(cè)厚儀M2 BLIZZARD采用開(kāi)槽設(shè)計(jì)，適用于扁平形狀和尺寸過(guò)大的樣品。

I-V曲線測(cè)試儀 PV200太陽(yáng)能光伏測(cè)試及I-V曲線跟蹤

1500V光伏組串檢測(cè)儀 Solar Utility ProSolar Utility Pro能夠檢測(cè)高1500V/40A的多組并聯(lián)的光伏串，解決了以往因?yàn)槌^(guò)...

光伏安裝測(cè)試儀/便捷光伏檢測(cè)儀英國(guó)seaward PV150 太陽(yáng)能安裝檢測(cè)儀為光伏安裝提供、簡(jiǎn)單的電氣和光伏安裝性能確認(rèn)。

布魯克電荷靈敏前置放大器 CUBE布魯克電荷靈敏前置放大器 CUBE（立方）是一種以脈沖復(fù)位模式運(yùn)行的單片電荷靈敏式前置放大器，借助外部電阻器，也可以以連續(xù)復(fù)位...

DANTE數(shù)字脈沖處理器DANTE數(shù)字脈沖處理器伽馬射線探測(cè)器信號(hào)，數(shù)字脈沖處理器，前置放大器芯片，X射線信號(hào)，前置放大器芯片，SDD探測(cè)器，同步輻射光源。

薄膜測(cè)厚儀MProbe系列反射光譜干涉法是一種非接觸式、無(wú)損的、快速的光學(xué)薄膜厚度測(cè)量技術(shù)。

反射膜厚儀MProbe VisMProbe Vis薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。

反射膜厚儀MProbe UVVisSRMProbe UVVisSR薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。

反射膜厚儀MProbe RT該機(jī)大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。

反射膜厚儀MProbe NIR采用近紅外光譜（NIR）的測(cè)厚儀可以用于測(cè)量一些可見(jiàn)光和紫外光無(wú)法使用的應(yīng)用領(lǐng)域，比如在可見(jiàn)光范圍內(nèi)有吸收的太陽(yáng)能薄膜（CIGS,...

顯微反射膜厚儀MProbe MSPMProbe MSP顯微薄膜測(cè)厚儀適用于實(shí)時(shí)在線測(cè)量，多層測(cè)量，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(kù)（超過(guò)500材料），新材料可以...

涂層測(cè)厚儀SURFIX®X系列測(cè)量?jī)x器: 彩屏, PC 連接，易操作,以及適合PHYNIX探頭