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CCIT真空衰減法密封檢漏儀,濟南三泉中石實驗儀器研發(fā)生產(chǎn)的CCIT密封性測試儀LEAK-S采用真空衰減法原理,基于雙傳感技術(shù),采用非破壞性檢測方法對成品包裝進行泄漏檢測,測試后樣品無損傷不影響正常使用,測試成本低,產(chǎn)品包裝完成完整性試驗之后仍然可以正常使用,滿足ASTM F2338《使用真空衰變法無損檢驗包裝緊密性的標準試驗方法》、USP 1207等。
CCIT真空衰減法密封檢漏儀
CCIT,英文全稱為Container Closure Integrity Test,又稱容器密封性,顧名思義就是檢查容器(內(nèi)包材)的密封性(完整性,泄漏情況)。
容器密封性測試方法
容器密封性測試分為物理的(Physical CCIT)和微生物測試(Microbial CCIT)。測試方法包括常見的亞甲基藍染色,色水法,真空衰減,激光,微生物侵入法等等。方法選擇時,需考慮各種因素,如包裝本身、包裝內(nèi)容物、密封組件的匹配、方法本身的特點、檢出限等。
濟南三泉中石實驗儀器研發(fā)生產(chǎn)的CCIT密封性測試儀LEAK-S采用真空衰減法原理,基于雙傳感技術(shù),采用非破壞性檢測方法對成品包裝進行泄漏檢測,測試后樣品無損傷不影響正常使用,測試成本低,產(chǎn)品包裝完成完整性試驗之后仍然可以正常使用,滿足ASTM F2338《使用真空衰變法無損檢驗包裝緊密性的標準試驗方法》、USP 1207等。
測試原理
將CCIT密封性測試儀主機連接到一個特別設(shè)計用來容納需要被測物的測試腔內(nèi)。儀器對測試腔進行抽真空,包裝物內(nèi)外形成壓力差,在壓力的作用下包裝物內(nèi)氣體通過漏孔擴散至測試腔內(nèi),雙傳感器技術(shù)檢測時間和壓力的變化關(guān)系,與標準值(建立的數(shù)學模型)進行比較,從而判斷試樣是否泄漏。
技術(shù)參數(shù)
真空度:0--100kPa
檢測孔徑精度:<5μm
設(shè)備操作:自帶HMI
內(nèi)部壓力:常壓
測試系統(tǒng):真空傳感器技術(shù)
真空來源:外接真空泵
測試腔:根據(jù)樣品定做
檢測原理:真空衰減法/無損檢測
主機尺寸:500mmX360mmX320mm(長寬高)
重 量:18Kg
環(huán)境溫度:20℃-30℃
相對濕度:≤80%,無凝露
工作電源:220V
技術(shù)特征
1、CCIT密封性測試儀針對不同檢測樣品可選配對應(yīng)的測試腔,用戶可輕松更換,在滿足更多種類樣品的情況下,盡量減少用戶費用開支,使儀器具備要有較好的檢測適應(yīng)性;
2、適用于檢測微小漏孔,也可以鑒別大漏孔樣品,并給出合格與不合格的判斷;
3、采用非破壞性檢測方法對成品包裝進行泄漏檢測,測試后樣品無損傷不影響正常使用,測試成本低;
4、測試結(jié)果非主觀性判斷,無需人工參與,保證數(shù)據(jù)準確性與客觀性;
5、儀器配備R232串口,支持數(shù)據(jù)局域網(wǎng)傳輸,并具備ISP在線升級功能,滿足客戶個性化要求。
CCIT真空衰減法密封檢漏儀