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HT/GW-500-高溫老化試驗箱原理
- 發(fā)布日期：
- 有效日期：
- 所 在 地：
- 產(chǎn) 地：
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- 2024年10月8日
- 2025年4月10日
- 北京北京市
- 北京
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【產(chǎn)品簡介】
內(nèi)箱尺寸:（寬*深*高mm） 700×800×900
外箱尺寸:（寬*深*高mm） 1250×1150×1500
【詳細說明】
高溫老化試驗箱
HT/GW-500
內(nèi)箱尺寸:（寬*深*高mm） 700×800×900
外箱尺寸:（寬*深*高mm） 1250×1150×1500
一、執(zhí)行標準：
高溫老化試驗箱滿足GB2423.1－2001試驗A《高溫試驗方法》國家標準，以及其它相關(guān)標準的要求。嚴格按GB 105，可在規(guī)定范圍內(nèi)進行各種高溫環(huán)境試驗。
二、技術(shù)參數(shù)：
1.溫度范圍：室溫+10℃～450℃
2.溫度均勻度：±2℃
3.溫度波動度：±1℃
4.控溫精度：1℃
5.升溫速率：7～11℃/min
6.時間設(shè)定范圍：1～9999 秒、分鐘、小時可調(diào)
7.電源電壓：AC1 220V/50HZ AC3 380V/50HZ
8.室體噪音：＜30dB
三、產(chǎn)品用途：
高溫老化試驗箱可以用來考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化，產(chǎn)品表面產(chǎn)生高溫老化環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。設(shè)備采用強迫空氣循環(huán)來保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。為限制輻射影響，設(shè)備內(nèi)壁各部分溫度與試驗規(guī)定的溫度之差不大于8％，且試驗樣品不會受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。
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