產(chǎn)品簡(jiǎn)介
TH2661型四探針測(cè)試儀,可測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻,適用于半導(dǎo)體和太陽(yáng)能材料測(cè)試的要求,也可對(duì)分立電阻進(jìn)行測(cè)量,USB接口可為用戶提供遠(yuǎn)程控制及測(cè)試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)和分析。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式,既能適應(yīng)固定場(chǎng)合對(duì)元器件進(jìn)行檢測(cè),又可隨身攜帶以滿足測(cè)試人員的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試要求。