SX1934D型二合一數(shù)字式四探針測試計
產(chǎn)品說明
SX1934D型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。換上特制的四探針測試夾具，還可以對金屬導體的低、中值電阻進行測量，適用于半導體、太陽能行業(yè)的篩選。
產(chǎn)品特點
SX1934D型二合一數(shù)字式四探針測試計儀器由主機、測試探頭（可選配測試臺）等部分組成，測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。主機主要由數(shù)控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成，自動轉(zhuǎn)換量程。測試探頭高分子材料和高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準確、游移率小、壽命長。儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測量簡便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(自動調(diào)零)?？设b別半導體PN類別。
詳細參數(shù)
型號 | SX1934D |
測量范圍 | 電阻率：10-2～102Ω-cm；方塊電阻：10-1～103Ω/□；電阻：10-3～9999Ω，可鑒別半導體PN類別 |
外形尺寸 | 主機 173mm（D）×80 mm（W）×30mm（H） |
電源 | 交直流兩用（內(nèi)置鋰電池）功 耗：<1W； 電源充電器：輸入:220V±10% 50Hz； 輸出:DC5V±10% |
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