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比表面及孔徑分析儀

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  • 型號(hào) V-Sorb 4800P
  • 品牌 國(guó)儀量子
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 北京市
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更新時(shí)間:2023-02-28 17:30:22瀏覽次數(shù):4084

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4站比表面及孔徑分析儀V-Sorb 4800P是金埃譜科技自主研發(fā)的全自動(dòng)智能化比表面積和孔徑分析儀器,眾多著名科研院所及500強(qiáng)企業(yè)應(yīng)用案例;采用靜態(tài)容量法測(cè)量原理;相比國(guó)內(nèi)同類(lèi)產(chǎn)品,金埃譜多項(xiàng)*技術(shù)的采用使產(chǎn)品整體性能更加完善,金埃譜測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和*性進(jìn)一步提高,金埃譜測(cè)試過(guò)程的穩(wěn)定性更強(qiáng),金埃譜達(dá)到同類(lèi)產(chǎn)品良好水平,部分功能超越國(guó)外產(chǎn)品.

詳細(xì)介紹

   4站比表面及孔徑分析儀V-Sorb 4800P是金埃譜科技自主研發(fā)的全自動(dòng)智能化比表面積和孔徑分析儀器,眾多著名科研院所及500強(qiáng)企業(yè)應(yīng)用案例;采用靜態(tài)容量法測(cè)量原理;相比國(guó)內(nèi)同類(lèi)產(chǎn)品,金埃譜比表面及孔徑分析儀多項(xiàng)技術(shù)的采用使產(chǎn)品整體性能更加完善,金埃譜測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和*性進(jìn)一步提高,金埃譜測(cè)試過(guò)程的穩(wěn)定性更強(qiáng),金埃譜達(dá)到同類(lèi)產(chǎn)品良好水平,部分功能超越國(guó)外產(chǎn)品.
  金埃譜科技是早參與比表面積標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研制及標(biāo)定的機(jī)構(gòu),測(cè)試結(jié)果與國(guó)外數(shù)據(jù)可比性平行性,并獲取認(rèn)證機(jī)構(gòu)的檢測(cè)證書(shū),同時(shí)金埃譜科技也是國(guó)內(nèi)同行業(yè)中注冊(cè)資本規(guī)模最大,通過(guò)ISO9001認(rèn)證的企業(yè),雄厚實(shí)力和完善的質(zhì)量及服務(wù)體系,讓您選購(gòu)的產(chǎn)品無(wú)后顧之憂(yōu)!

比表面及孔徑分析儀

 
  一、主機(jī)功能
 ?。?)吸附及脫附等溫線測(cè)定;
 ?。?)樣品真密度測(cè)定;
  (3)BJH(Barrett-Joyner-Halenda)介孔分析-總孔體積及孔徑分布分析;
 ?。?)t-plot圖法微孔分析;HK(Horvath-Kawazoe)法微孔分析;
 ?。?)MP法微孔分析;
  (6)SF(Saito-Foley)法微孔分析;
 ?。?)Langmuir法比表面積測(cè)定;
 ?。?)DR(Dubinin-Radushkevich)及DA(Dubinin-Astakhov)填充理論;
 ?。?)CO2冰水法微孔分析;
  (10)BET(Brunauer-Emmett-Teller)法比表面積測(cè)定(單點(diǎn)及多點(diǎn));
 ?。?1)t-plot圖法外比表面積測(cè)定;
 
  二、全自動(dòng)4站技術(shù)參數(shù)
  1、測(cè)試方法及功能:真空容量法(真空靜態(tài)法),吸附及脫附等溫線測(cè)定,BJH總孔體積及孔徑分析,樣品真密度測(cè)定,t-plot圖法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面積測(cè)定(單點(diǎn)及多點(diǎn)),Langmuir法比表面積測(cè)定,平均粒徑估算,t-plot圖法外比表面積測(cè)定。
  2、測(cè)定范圍:0.01(m2/g)--至無(wú)上限(比表面積);0.35nm-2nm(微孔);2nm-500nm(中孔或介孔)。
  3、測(cè)量精度:重復(fù)性誤差小于1.5%。
  4、真空系統(tǒng):V-Sorb*的集裝式管路及電磁閥控制系統(tǒng),大大減小管路死體積空間,提高檢測(cè)吸附氣體微量變化的靈敏度,從而提高孔徑分析的分辨率;同時(shí)集裝式管路減少了連接點(diǎn),大大提高密封性和儀器使用壽命。
  5、液位控制:V-Sorb*的液氮面控制系統(tǒng),確保測(cè)試全程液氮面相對(duì)樣品管位置保持不變,消除因死體積變化引入的測(cè)量誤差。
  6、控制系統(tǒng):采用可編程控制器電磁閥控制系統(tǒng),高集成度和抗干擾能力,提高儀器穩(wěn)定性和使用壽命。
  7、樣品數(shù)量:同時(shí)進(jìn)行4個(gè)樣品分析和4個(gè)樣品脫氣處理,樣品測(cè)試系統(tǒng)和樣品處理系統(tǒng)必需相互獨(dú)立,并且樣品測(cè)試和樣品脫氣處理必需可以同時(shí)進(jìn)行,避免了測(cè)試管路受到污染,從而進(jìn)一步確保測(cè)試的精度和提高儀器使用壽命。
  8、壓力測(cè)量:采用壓力分段測(cè)量的進(jìn)口4支壓力傳感器,顯著提高低 P/Po點(diǎn)下測(cè)試精度,2支0-1000 Torr(0-133Kpa),2支0-10 Torr (0-1.33Kpa),必須提供進(jìn)口檢測(cè)證書(shū)。
  9、壓力精度:進(jìn)口硅薄膜壓力傳感器,精度達(dá)實(shí)際讀數(shù)的0.15%,優(yōu)于全量程的0.15%,遠(yuǎn)高于皮拉尼電阻真空計(jì)精度(一般誤差為10%-15%)。
  10、分壓范圍:P/Po 準(zhǔn)確可控范圍達(dá)5x10-6-0.995。
  11、極限真空:4x10-2Pa (3x10-4Torr)。
  12、樣品類(lèi)型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等。
  13、測(cè)試氣體:高純N2氣(99.999%)或其它(按需選擇如Ar,Kr)。
  14、數(shù)據(jù)采集:高精度及高集成度數(shù)據(jù)采集模塊,誤差小,抗干擾能力強(qiáng)。
  15、數(shù)據(jù)處理:Windows兼容數(shù)據(jù)處理軟件,功能完善,操作簡(jiǎn)單,多種模式數(shù)據(jù)分析,圖形化數(shù)據(jù)分析結(jié)果報(bào)表。
 
  三、全自動(dòng)4站結(jié)構(gòu)特點(diǎn)
  1、真空系統(tǒng)
 ?。?)一體化集裝式管路系統(tǒng),采用進(jìn)口集裝管路,顯著減少管路連接點(diǎn),大大降低漏氣率,提高極限真空度;
 ?。?)模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),一體式集裝管路,需人工進(jìn)行連接的部件少,有利于根據(jù)用戶(hù)需求按需配置及后期功能擴(kuò)展,有利于維修更換;
 ?。?)采用德國(guó)真空泵,噪音小,運(yùn)行穩(wěn)定,防油返功能,極限真空度高,可達(dá)4x10-2Pa (3x10-4Torr).
  2、控制系統(tǒng)
 ?。?)設(shè)計(jì)的測(cè)試系統(tǒng)管路和樣品處理管路分離結(jié)構(gòu),有效防止樣品處理過(guò)程中產(chǎn)生的雜質(zhì)對(duì)測(cè)試管路的污染;
 ?。?)采用廣泛應(yīng)用于工業(yè)控制系統(tǒng)中的可編程控制器電磁閥控制系統(tǒng),抗干擾能力強(qiáng),穩(wěn)定性大大提高,安裝及拆卸都非常方便;
  3、提高測(cè)試精度措施
 ?。?)采用與同類(lèi)進(jìn)口產(chǎn)品相同品牌的高精度硅薄膜壓力傳感器,壓力測(cè)量精度為相應(yīng)讀數(shù)的0.15%,遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于0.15%的全量程精度(FS)傳感器;
 ?。?)與國(guó)外同類(lèi)產(chǎn)品類(lèi)似,采用0-10Torr和0-1000Torr雙壓力傳感器,對(duì)測(cè)試范圍內(nèi)的壓力采用分段測(cè)量,大大降低了低真空下的測(cè)量誤差,0-10Torr的硅薄膜壓力傳感器精度遠(yuǎn)高于相同量程的皮拉尼電阻真空計(jì)(一般誤差為10%-15%);
  (3)一體化集裝式管路系統(tǒng),采用進(jìn)口集裝管路,顯著減少管路連接點(diǎn),大大減少死體積空間,有利于降低測(cè)量誤差;
 ?。?)設(shè)計(jì)的抽氣及進(jìn)氣控制系統(tǒng),有效防止樣品抽真空和進(jìn)氣過(guò)程中的飛濺,確保測(cè)試氣路的清潔和樣品質(zhì)量無(wú)損失,保護(hù)高精度壓力傳感器免受壓力巨變可能導(dǎo)致的零點(diǎn)和線性漂移;
  (5)步進(jìn)式液氮面控制系統(tǒng),確保測(cè)試全程液氮面相對(duì)樣品管位置保持不變,消除因死體積變化引入的測(cè)量誤差;
  4、數(shù)據(jù)采集及處理
  (1)采用高精度及高集成度數(shù)據(jù)采集模塊,連接方便,誤差小,抗干擾能力;采用業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)的485通訊模式,有利于設(shè)備擴(kuò)展和互連,可方便轉(zhuǎn)換為所需的RS232和USB通訊模式;
 ?。?)多種理論計(jì)算模型數(shù)據(jù)分析,為用戶(hù)提供*的材料分析方案;強(qiáng)大的測(cè)試數(shù)據(jù)歸檔保存,查詢(xún)系統(tǒng),有利于用戶(hù)數(shù)據(jù)管理.
  金埃譜科技---,比表面積,比表面積儀,比表面積測(cè)試儀,比表面積分析儀,比表面積測(cè)定儀國(guó)產(chǎn)實(shí)現(xiàn)真正自動(dòng)化智能化測(cè)試技術(shù)的和著,多項(xiàng)技術(shù)已成為業(yè)內(nèi)廠商仿效。
 
  四、應(yīng)用領(lǐng)域
 ?。?)粉體材料生產(chǎn)及應(yīng)用企業(yè)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)測(cè);
  (2)超微粉體,納米材料,顆粒及纖維狀材料比表面積、孔徑分布、孔隙率等分析測(cè)定;
 ?。?)高校及科研單位材料研究測(cè)試,吸附科學(xué)及BET(Brunauer-Emmett-Teller), BJH(Barrett-Joyner-Teler),HK(Horvath-Kawazoe), SF(Saito-Foley), MP等理論教學(xué)實(shí)驗(yàn);
  (4)電池材料,催化劑,添加劑,吸附劑,陶瓷燒結(jié)材料,磁性材料,儲(chǔ)能材料等相關(guān)性能測(cè)定;
 ?。?)其它與材料表面性能相關(guān)的研究工作。

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