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產(chǎn)品簡介
詳細介紹
A2標準靈敏度試片
標準試片分為A1、A2；A1為退火材料制成，A2為不作熱處理的冷軋材料制成。本試片按JB4730-2005標準特別注明A1試片，與日本JISG0565-6標準和美國ASME SE709標準相對應。本試片為A1 （15/50μ）標準試片。相當于A1型試片中2# （30/100μ）標準靈敏度試片，規(guī)格為（8-9）D；適用于中靈敏度探傷，其中括號中分子為槽深，分母為試片厚度，單位為（微米），D為工件直徑。
本套試片包括：
1# 15/100μ
2# 30/100μ
3# 60/100μ
共六片不同規(guī)格的試片組成 （3種規(guī)格分別兩片）
磁粉靈敏度試片使用方法：
1、標準試片適宜于連續(xù)磁化法，使用時應選適當靈敏度的試片，將刻有槽的一面朝向工件，用膠帶紙緊密地貼上，保證試片與被檢面接觸良好，膠帶紙貼于試片兩邊緣，不能覆蓋試片背面的刻槽部位。
2、進行外加懸場法，對工件進行磁化，并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉（磁化規(guī)范由低檔逐提高，以顯示磁痕為界，即是磁化電流）。上述步驟完畢后，貼在工件表面上的試片，即可清楚顯示磁痕。
注意事項：
1、試片使用前，用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去，再用膠帶紙緊密地貼在工件上，保證試片與被檢面接觸良好。
2、試片用后請涂防銹油。
3、試片有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時不得繼續(xù)使用。
產(chǎn)品關鍵字：A2磁粉標準靈敏度試片