上海E+H雷達物位計 E+H雷達物位計工作原理微波物位計工作方式類似雷達：向被測目標發(fā)射微波，由目標反射的回波返回發(fā)射器被接收，與發(fā)射波進行比較，確定目標存在并計算出發(fā)射器到目標的距離。

上海E+H雷達物位計 E+H雷達物位計工作原理：微波物位計工作方式類似雷達：向被測目標發(fā)射微波，由目標反射的回波返回發(fā)射器被接收，與發(fā)射波進行比較，確定目標存在并計算出發(fā)射器到目標的距離。
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E+H 50W4H-HC0A1AA0AA4AA
E+H 50P1F-AA1A1A0AAAA
E+H 65F15-AE2AG1AABAA
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上海E+H雷達物位計 E+H雷達物位計FMR230系列優(yōu)點：
經濟的兩線制技術:
是差壓、浮子和浮筒式物位計的可靠替代品。
采用兩線制技術，有效的降低布線成本，且易于實現(xiàn)與現(xiàn)有系統(tǒng)的集成
非接觸式測量
測量幾乎不受介質特性影響。
通過數文引導式菜單輕松進行現(xiàn)場操作.
通過Endress+Hauser的操作軟件便于進行儀表調試、文件編制和故障診斷
頻率范圍采用C波段
支持HART 或PROFIBUS PA以及FF基金會現(xiàn)場總線協(xié)議
耐高溫:
適用于過程溫度高達+200 °C （392 °F）的測量場合
采用高溫型天線時過程溫度可達 400 °C （752 °F）
用于物位監(jiān)測（MIN, MAX） ，符合 IEC 61508/IEC 61511-1標準的要求，通過了SIL 2認證
選項: 氣密性電纜入口，提高過程的安全性
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E+H 50P1F-EC0A1AACZAAAA
E+H 72F40-SE1AA1AAA4AW
E+H 72F15-SE1AA1AAA4AW
E+H 50W25-UA0A1AA0A4AA
E+H 72W50-SE0AAA1AAC4AA
E+H 50P25-EA0A1A0AAAA
恩格斯豪斯雷達物位計發(fā)射功率很低的極短的微波通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內穩(wěn)定和精確的測量。即使存在虛假反射的時候，的微處理技術和軟件也可以準確地分析出物位回波。通過輸入容器尺寸，可以將上空距離值轉換成與物位成正比的信號。儀表可以空倉調試。在固體測量中的應用可以使用K-頻段的高頻傳感器。由于信號的聚焦效果非常好，料倉內的安裝物或倉壁的粘附物都不會影響測量E+H 80F80-AD2SAAAAAA
E+H 80F25-AD2SAAAAAA
E+H 83F80-AD2SAAAAAA
E+H 83F25-AD2SAAAAAA
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E+H 50W1H-HC0A1AA0AAAA
E+H 53P1H-EC0B1BA0ABAA
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E+H 50W80-HC0A1AK1ABAA
E+H 50W1Z-HC0A1AA0ABAA
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E+H雷達物位計選型事項：
雷達和多數的測量儀表一樣，選型無非是以下三個方面：1、介質特性方面 有無腐蝕性、粘附性如何、磨損力度如何、介電常數如何 等等，根據這些選擇纜繩的類型和儀表特征 2、容器、環(huán)境特性方面 容器尺寸如何、是否有障礙物或者攪拌、安裝要求如何、量程、結構、環(huán)境是否需要防爆 3、控制要求方面要什么信號輸出？是否需要就地顯示？精度有何要求？分辨力？供電要兩線還是4線？
E+H 50P15-EA1A1AC0A4AA
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E+H雷達物位計用途：雷達物位計采用微波脈沖的測量方法，并可在工業(yè)頻率波段范圍內正常，波束能量低，可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內，對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續(xù)測量。適用于粉塵、溫度、壓力變化大，有惰性氣體及蒸汽存在的場合。雷達物位計對人體及環(huán)境均無傷害，還具有不受介質比重的影響，不受介電常數變化的影響，不需要現(xiàn)場校調等優(yōu)點，不論是對工業(yè)需要，還是對顧客經濟實惠的考慮，都是不錯的選擇。