便攜式電阻測試儀/便攜式電阻率儀/便攜式電阻率/方阻測試儀　型號：KDK-KDY-1B

便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。

   本儀器按照半導體材料電阻率的際及家標準測試方法有關規(guī)定。

   它主要由電器測量份（主機）及四探頭組成，需要時可加配測試架。

   為減小體積，本儀器用同塊數(shù)字表測量電及阻率。樣品測試電由寬的恒源提供，隨時可行校準，以確保電阻率測量的準確度。因此本儀器不僅可以用來分選材料也可以用來作產(chǎn)品檢測。對1～100Ω·cm標準樣片的測量誤差不過±5%，在此范圍內(nèi)達到家標準二機的水平。

2、測試儀結構及原理

測試主機由主機板、前面板、后背板及機箱組成，數(shù)字表、測試電換檔開關、電阻率/方阻轉(zhuǎn)換開關、校準/測量變換開關以及電調(diào)節(jié)電位器均裝在前面板上。后背板上只裝有電源插座、電源開關、保險管及四探針連接插座。機箱底板上字裝了主機板。前后面板與主機板之間的聯(lián)接均采用接插件，便于拆卸維修。

參數(shù)：

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