產(chǎn)地類別 |
國(guó)產(chǎn) |
價(jià)格區(qū)間 |
面議 |
應(yīng)用領(lǐng)域 |
綜合 |
直讀式鐵損測(cè)試儀觸摸式按鈕設(shè)計(jì)。 測(cè)量精度≤±5% (JIS Epstein方法比較)。 磁通密度按1.0/1.5/1.7T三檔切換。
直讀式鐵損測(cè)試儀 觸摸式鐵損測(cè)試儀 鐵損測(cè)試儀
型號(hào):JC03-DAC-IR-3
【特 征】
觸摸式按鈕設(shè)計(jì)。
測(cè)量精度≤±5% (JIS Epstein方法比較)。
磁通密度按1.0/1.5/1.7T三檔切換。
大和小雙測(cè)試探頭配置,小探頭最小測(cè)試寬度8mm以上。
RS-232C通訊接口,可外接小型專用打印機(jī)(增選件)。
【功 能】
·測(cè)試范圍:0.10~19.99 W/kg;
·磁通密度:1.0T、1.5T、1.7T;
·試樣厚度:0.05~0.99mm;
·試樣寬度:最小2mm (5mm以上保證設(shè)計(jì)精度,形狀不規(guī)則(非長(zhǎng)方形)的復(fù)雜沖壓片,可任意設(shè)定相近的有效寬度);
·測(cè)試精度:≤±5% (JIS Epstein方圈法比較);
·測(cè)試頻率:50Hz/60Hz;
·使用電源:AC100-240V。
【尺寸重量】
·主 機(jī)(81M/DAC-IR-3)尺寸:W(188)×H(103)×D(287) mm
·重 量:主機(jī) 約5 Kg
直讀式鐵損測(cè)試儀 觸摸式鐵損測(cè)試儀 鐵損測(cè)試儀
型號(hào):JC03-DAC-IR-3
【特 征】
觸摸式按鈕設(shè)計(jì)。
測(cè)量精度≤±5% (JIS Epstein方法比較)。
磁通密度按1.0/1.5/1.7T三檔切換。
大和小雙測(cè)試探頭配置,小探頭最小測(cè)試寬度8mm以上。
RS-232C通訊接口,可外接小型專用打印機(jī)(增選件)。
【功 能】
·測(cè)試范圍:0.10~19.99 W/kg;
·磁通密度:1.0T、1.5T、1.7T;
·試樣厚度:0.05~0.99mm;
·試樣寬度:最小2mm (5mm以上保證設(shè)計(jì)精度,形狀不規(guī)則(非長(zhǎng)方形)的復(fù)雜沖壓片,可任意設(shè)定相近的有效寬度);
·測(cè)試精度:≤±5% (JIS Epstein方圈法比較);
·測(cè)試頻率:50Hz/60Hz;
·使用電源:AC100-240V。
【尺寸重量】
·主 機(jī)(81M/DAC-IR-3)尺寸:W(188)×H(103)×D(287) mm
·重 量:主機(jī) 約5 Kg