EDX系列x熒光光譜儀，能量色散X射線熒光光譜儀應(yīng)用于RoHS & WEEE指令分析、各種金屬膜厚度測量、工業(yè)鍍層厚度測量、鹵素指令Cl元素分析、礦石、原材料成份分析等、磁性磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體以及各種合金、貴金屬成份分析.
EDX系列x熒光光譜儀主要特點(diǎn)
●分析元素范圍　S-U

●分析元素的濃度范圍　2ppm—100%
●整機(jī)穩(wěn)定性連續(xù)8小時(shí)測RSD<0.25%
● ROHS/WEEE檢測時(shí)間100-120秒

●美國進(jìn)口電制冷Si（Pin）探測器

●電制冷Si（Pin）探測器 晶體面積15mm2分辨率<155eV
●全數(shù)字脈沖處理器技術(shù)

●優(yōu)異的峰背比、*的痕量分析靈敏度

● 50KV,50W自防護(hù)X-射線管

●復(fù)合濾光片智能切換技術(shù)

特征：

☆可分析精確分析氯元素和油漆中的鉛

☆集成FP法，Alpha系數(shù)法、經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法

☆安全聯(lián)動裝置，軟硬結(jié)合的輻射設(shè)計(jì)

☆操作簡單、一鍵式操作

☆智能軟件自動參數(shù)設(shè)定和選擇濾光片

☆ X射線管超溫保護(hù)

☆電子冷卻，無需液氮和其它耗材

技術(shù)規(guī)格