目錄:孚光精儀（中國）有限公司>>光譜分析儀器>>原子發(fā)射光譜儀>> FPKEL-APS環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子 |
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環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀系統(tǒng)是為大氣環(huán)境下光電子能譜測量設(shè)計的光電子能譜儀器,Photoemission Spectroscopy，通過空氣中的光電發(fā)射測量材料的絕對功函數(shù)，不需要真空。
環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀系統(tǒng)在3.4eV到7.0 eV的激發(fā)范圍內(nèi)能夠測量金屬的絕對功函數(shù)（精度：0.05 eV）和半導體的電離電位，同時使用開爾文探針測量表面費米能級（精度：0.001 eV）。
隨著表面光電壓（SPV）和表面光電壓譜（SPS）的加入，
環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀系統(tǒng)可以測量半導體的全波段。
環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀系統(tǒng)特點
空氣中光電效應(yīng)的功函數(shù)
態(tài)密度測量
3.4 eV至7.0 eV能量范圍
所有半導體帶的測量
用開爾文探針測量接觸電位差
環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀系統(tǒng)應(yīng)用
有機和非有機半導體
金屬和金屬合金
薄膜和表面氧化物
太陽能電池與有機光伏
腐蝕與納米技術(shù)
環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀系統(tǒng)規(guī)格參數(shù)
| 規(guī)格參數(shù) | APS01 | APS02 | APS03 | APS04 |
| 開爾文探針三軸掃描功能 | ? | ? | ? | |
| 表面光電壓（SPV） | ? | ? | ||
| 表面光電壓譜（SPS） | ? | |||
| 針尖Tip材料 / 直徑 | 2 mm gold tip | |||
| CPD分辨率 | 1 - 3 meV | |||
| 高度控制 (自動) | 25 mm 自動 | |||
| 開爾文探針模式和PE模式 | CPD 和光發(fā)射測量 | |||
| CPD 測量時間 | CPD 測量時間<1分鐘 | |||
| PE分辨率 | 全部光電子發(fā)射測量 | |||
| WF 測量時間 | PE測量<5分鐘 | |||
| DOS 測量 | Full access to DOS information | |||
| 光學系統(tǒng) | 彩色相機帶ZOOM放大,監(jiān)測定位 | |||
| 示波器 | 數(shù)字TFT示波器用于實時信號 | |||
| 測量樣品 | 金, 鋁 ，銀等 | |||
| 法拉第外殼底座 (mm) | 450 x 450 mm 法拉第外殼 | |||
| 控制系統(tǒng) | 計算機控制，標配軟件 | |||
| 已經(jīng)申請的 | US:8866505 / GB:2439439 / GB:2495998 / EU:2783205 / JP:6018645 | |||
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