超低溫磁場掃描隧道顯微鏡 參考價：面議
超低溫磁場掃描隧道顯微鏡是超低溫高磁場表面物理研究設計的STM掃描隧道顯微鏡。廣泛應用于表面科學研究的前沿領域，實現(xiàn)了低溫和高磁場的掃描隧道顯微鏡商用化
超高真空超低溫四探針SPM 參考價：面議
這超高真空超低溫四探針SPM是超高真空室內應用設計的UHV極低溫多探針掃描探針顯微鏡，得益于多探針SPM優(yōu)異性能,這款產(chǎn)品可用于納米技術
低溫高真空針尖增強拉曼光譜系統(tǒng) 參考價：面議
低溫高真空針尖增強拉曼光譜系統(tǒng)采用一種低溫單分子成像方法,在低溫高真空條件下，可實現(xiàn)亞納米級拉曼光譜成像，提高信噪比和靈敏度
超高真空極低溫強磁場掃描隧道顯微鏡 參考價：面議
超高真空極低溫強磁場掃描隧道顯微鏡是高性能掃描隧道顯微鏡應用于前沿表面科學研究的理想工具,實現(xiàn)了低溫和強磁場。基問可達40mK （typecal 30 mK），...
聚焦離子束蝕刻系統(tǒng) 參考價：面議
這套聚焦離子束蝕刻系統(tǒng)是一種超高真空UHV條件多功能FIB系統(tǒng),既可以配置為掃描電子顯微鏡SEM,也可以配置為結合SEM和高性能聚焦離子束FIB的雙束平臺。
環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀 參考價：面議
環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀系統(tǒng)是為大氣環(huán)境下光電子能譜測量設計的光電子能譜儀器,Photoemission Spectroscopy，通過空氣中的光電發(fā)射測量材料...
單點開爾文探針系統(tǒng) 參考價：面議
我們的單點開爾文探針系統(tǒng)采用非零信號檢測方法對材料的功函數(shù)/費米能級進行非常高質量的測量。
表面光電壓譜儀 參考價：面議
表面光電壓譜儀是專業(yè)為研究光敏材料（如有機半導體、太陽能電池或光敏染料）設計的表面光電壓儀器,Surface Photovoltage.
太陽能電池I-V測試儀 參考價：面議
太陽能電池I-V測試儀能夠高精度高效率地測量太陽能I-V曲線和Suns-Voc數(shù)據(jù)，可高精度測量傳統(tǒng)太陽能電池和背接觸太陽能電池。
Suns-Voc后擴散測試儀 參考價：面議
Suns-Voc后擴散測試儀是Suns-Voc后擴散過程控制的理想儀器，適合用于漿料燒結優(yōu)化和過程控制。
高分辨率晶圓厚度測試儀 參考價：面議
高分辨率晶圓厚度測試儀能夠高精度測量硅晶圓厚度和硅晶圓厚度變化,分辨率高達10nm,可滿足不同的晶圓厚度范圍。
飛秒激光微加工機床 參考價：面議
飛秒激光微加工機床是工藝級飛秒激光精細加工機床,廣泛用于工業(yè)鉆孔,蝕刻,切割,打標等應用。
彈丸跟蹤系統(tǒng) 參考價：面議
彈丸跟蹤系統(tǒng)采用適合高速攝影和測量的直線高速追蹤技術,非常適合高速運動目標的追蹤。
光電跟蹤系統(tǒng) 參考價：面議
這款光電跟蹤系統(tǒng)采用適合高速攝影和測量的高速直線追蹤技術,非常適合高速運動目標的追蹤。
鉆石光對稱測量儀 參考價：面議
鉆石光對稱測量儀有效地測量光通過切割鉆石時的質量,光對稱性通過檢驗就鉆石切割而言,看到光和感知光的效率成為衡量鉆石質量的重要指標。光對稱性可反過來檢驗鉆石切割對...
鉆石成色檢測儀 參考價：面議
鉆石成色檢測儀通過量化鉆石的光譜響應來評估鉆石質量,提供科學準確和可重復的鉆石光性能測量。操作簡單方便,只需將鉆石裝入儀器,最終結果在屏幕快速顯示出來。包括亮度...
光纖色散測量儀 參考價：面議
這款光纖色散測量儀是為光纖色散分析應用設計的光纖色散分析儀器,采用inometrix的Virtual Reference干涉儀技術,可與Agilent/Keys...
光致發(fā)光掃描成像儀 參考價：面議
光致發(fā)光掃描成像儀photoluminescence （PL） 是一款光致發(fā)光顯微鏡和顯微光致發(fā)光成像儀,幫助科研人員獲得材料的高分辨率光譜信息。
微探針系統(tǒng) 參考價：面議
這款微探針系統(tǒng)micro probe是為材料光學特性和電特性測試設計的納米級微納探針儀器,可以結合顯微鏡,光譜儀等儀器在各種環(huán)境條件下現(xiàn)場測試材料電學和光學特性...
納米操縱系統(tǒng) 參考價：面議
納米操縱系統(tǒng)采用納米探針模塊nanoprober為顯微鏡或電鏡下微納操作提供納米級微操縱方案,非常適合SEM和各種電鏡樣品微操作使用
激光故障注入系統(tǒng) 參考價：面議
激光故障注入系統(tǒng)是為集成電路安全性評估設計的高精度laser fault injection系統(tǒng)和激光故障注入顯微鏡,方便對集成電路進行激光故障注入測試分析
光子輻射顯微鏡 參考價：面議
光子輻射顯微鏡是為集成電路失效分析設計的Photoemission光子輻射定位系統(tǒng),,可采集集成電路背部發(fā)射的紅外光子,觀察分析半導體的光子輻射,進而對半導體集...
熱激光激發(fā)顯微鏡 參考價：面議
熱激光激發(fā)顯微鏡采用Thermal Laser Stimulation - TLS技術,配備高清光學顯微鏡和高功率激光器,高精度聚焦定位集成電路板元器件進行失效...
高功率光纖激光放大器 參考價：面議
這款高功率光纖激光放大器采用摻Yb微結構光纖技術和全固態(tài)激光設計,結構緊湊而具有良好的激光穩(wěn)定性,適合搭建光纖激光放大實驗。
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