隨時(shí)掌握行業(yè)動態(tài)
網(wǎng)絡(luò)課堂 行業(yè)直播
手機(jī)訪問更快捷
更多流量 更易傳播
產(chǎn)品
OLYMPUS/奧林巴斯 其他品牌
在線詢價(jià)
FF系列CT系統(tǒng)PX 1800
AT1Lumina薄膜缺陷檢測儀PX 2811
WD4000系列晶圓厚度粗糙度微納三維形貌測量儀器PX 4748
WD4000晶圓表面形貌檢測設(shè)備PX 4748
晶圓搬運(yùn)機(jī)loader含顯微鏡PX 0
BK-PA精密氣浮式減振器PX 0
ETNAHTRB/HTGB高溫高壓反偏測試系統(tǒng)PX 0
FPAOI-ss15000il電路板自動光學(xué)檢測機(jī)AOI,PCBA光學(xué)jian測PX 4068
FPMIR-MV-93D自動光學(xué)檢測系統(tǒng),AOI光學(xué)jian測機(jī)PX 4068
FPVIS-S3088高速三維自動光學(xué)檢測系統(tǒng)AOI,焊點(diǎn)檢查PX 4068
FPVIS-X7056自動X射線檢測系統(tǒng)AXI,X射線jian測機(jī)器PX 4068
FPPVA-SIRD晶圓殘余應(yīng)力測量系統(tǒng),晶圓應(yīng)力ce試PX 4068
FPCON-Waferinspect晶圓檢測自動光學(xué)檢測系統(tǒng),AOI晶圓jian測PX 4068
薄膜生長設(shè)備
工藝測量和檢測設(shè)備
集成電路測試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長設(shè)備
掩模版和中間掩模版制造設(shè)備
離子注入設(shè)備
干法工藝設(shè)備
濕法工藝設(shè)備
組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
玻璃方阻測試儀
金屬薄膜方阻測試儀
氧化鎵電阻率方阻測試儀
晶圓電阻率測試儀
無損電阻率測試儀
自由曲面三維面型檢測儀
內(nèi)應(yīng)力檢測儀
CT系統(tǒng)
-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈--備庫銷售
備庫銷售-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學(xué)儀器有限公司
廣播電視節(jié)目經(jīng)營許可證
互聯(lián)網(wǎng)藥品信息服務(wù)資格證書
醫(yī)療器械網(wǎng)絡(luò)交易服務(wù)第三方平臺備案憑證
ICP備案號:浙B2-20100369
浙公網(wǎng)安備 33010602000006號
服務(wù)咨詢:0571-87759922
采購服務(wù):13073662630(微信同號)
展會合作:0571-87759900
投訴熱線:0571-87858619
友情鏈接:0571-87858618
化工儀器網(wǎng)APP
儀器優(yōu)選APP
微信公眾號
采購中心
請選擇參數(shù)!