AVIOR系列 MPI探針臺
- 公司名稱 深圳市矢量科學(xué)儀器有限公司
- 品牌 MPI
- 型號 AVIOR系列
- 產(chǎn)地 中國臺灣
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2024/9/5 16:52:09
- 訪問次數(shù) 347
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1 產(chǎn)品概述:
探針臺是一種精密的電子測試設(shè)備,主要用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。它集成了載物臺、光學(xué)元件、卡盤、探針卡、探針夾具及電纜組件等多個部分,能夠確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩(wěn)定的信號,從而進(jìn)行高精度的電氣測量。探針臺根據(jù)操作方式可分為手動、半自動和全自動三種類型,每種類型都有其特定的應(yīng)用場景和優(yōu)勢。
2 設(shè)備用途:
探針臺的主要用途包括:
半導(dǎo)體測試:在晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測試環(huán)節(jié),探針臺負(fù)責(zé)晶圓的輸送與定位,確保晶圓上的晶粒依次與探針接觸并逐個測試,實現(xiàn)更加精確的數(shù)據(jù)測試測量。它廣泛應(yīng)用于晶圓檢測、芯片研發(fā)和故障分析等應(yīng)用。
光電行業(yè)測試:在光電行業(yè)中,探針臺同樣用于測試光電元件和組件的性能,確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。
集成電路測試:探針臺可用于集成電路的測試,包括功能測試、電參數(shù)測試等,幫助工程師評估和優(yōu)化集成電路的性能。
封裝測試:在封裝工藝之前,探針臺可以對封裝基板進(jìn)行測試,確保封裝過程中不會出現(xiàn)質(zhì)量問題。
3 設(shè)備特點
探針臺具有以下顯著特點:
高精度:探針臺配備高精度的定位系統(tǒng)和微調(diào)機(jī)構(gòu),能夠精確地將探針定位到芯片上的測試點,并實現(xiàn)穩(wěn)定的接觸,確保測試的準(zhǔn)確性和可靠性。
多功能性:探針臺可用于多種測試場景,包括晶圓檢測、芯片研發(fā)、故障分析、網(wǎng)絡(luò)測量等,具有廣泛的應(yīng)用范圍。
自動化程度高:全自動探針臺通常配備有晶圓材料處理搬運單元(MHU)、模式識別(自動對準(zhǔn))等功能,能夠自動完成測試序列,減少人工干預(yù),提高測試效率。
靈活性:探針臺可根據(jù)測試需求進(jìn)行配置和調(diào)整,如可選配接入光纖,將電學(xué)探針替換為光纖,提高測試靈活性。
4 設(shè)備參數(shù):
結(jié)合了精確的探測臺、集成的控制軟件和微調(diào)的電動定位系統(tǒng)
高度可配置的晶圓探針臺系列可處理 2“ ~ 8” 晶圓,并提供全面的卡盤系統(tǒng)和探針機(jī)構(gòu)選擇。
高精度電氣和光學(xué)測量(DC/RF/脈沖)。
可選的接觸機(jī)構(gòu)選項包括:探針卡座 (PCH)、楔形探針卡和 MPI F1 單探針模塊。
靈活選擇精密光收集和耦合光學(xué)元件,以滿足您的特定測試要求。
MPI 探針臺控制軟件提供全面的控制功能,從基本的晶圓對準(zhǔn)、映射、探針標(biāo)記檢測到部署 MPI 先進(jìn)的針對準(zhǔn)機(jī)構(gòu) (NAM) 技術(shù)。
MPI 光子學(xué)測試系統(tǒng)采用以用戶為中心的設(shè)計,可根據(jù)您的測試要求靈活配置和編程。