一、產品概述：

阻抗分析儀是一款高精度的測試設備，專門用于測量和分析電子元件及材料的阻抗特性。該儀器能夠在寬頻率范圍內提供電阻、電抗、阻抗幅度和相位等參數(shù)，廣泛應用于電子元件測試、材料科學研究和電力系統(tǒng)分析等領域。阻抗分析儀通常配備用戶友好的操作界面，支持多種測試模式和數(shù)據記錄功能，能夠生成詳盡的測試報告。其高精度和靈活性使其成為現(xiàn)代電子測試和材料分析中的重要工具。

二、設備用途/原理：

·設備用途

阻抗分析儀主要用于測量和分析電子元件及材料的阻抗特性，廣泛應用于電子元件測試、材料科學研究、電力系統(tǒng)分析以及電池和電容器的性能評估。它能夠提供電阻、電抗、阻抗幅度和相位等參數(shù)，幫助工程師和研究人員優(yōu)化設計和提高產品性能。

·工作原理

阻抗分析儀通過施加已知頻率的交流信號到被測元件，并測量其響應信號來工作。儀器使用高精度的模數(shù)轉換器（ADC）對電流和電壓信號進行采樣，計算出阻抗的幅度和相位。通過頻率掃描，儀器能夠在寬頻率范圍內繪制阻抗譜，展示材料或元件在不同頻率下的阻抗特性。這些數(shù)據可以用于分析材料的電特性、評估器件性能和研究電化學行為等。

三、主要技術指標：

1. 在寬廣的阻抗范圍內提供 0.65% 的基本準確度?？梢赃x配材料測量選件以執(zhí)行溫度特征分析，并能夠直接得到介電常數(shù)和導磁率讀數(shù)，是表征和評測電子元器件、半導體器件和材料的理想方案

2. 3 種可升的頻率選件：1 MHz 至 500 MHz/1 GHz/3 GHz

3. ±0.65% 基本準確度和 120 m? 至 52 k? 阻抗范圍

4. 測量參數(shù)：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、|Γ|、Γx、Γy、θΓ、Vac、Iac、Vdc1、Idc1（1. 需要選件 001）

5. 內置直流偏置（選件 001）：0 V 至 ±40 V，0 A 至 ±100 mA

6. 數(shù)據分析功能：等效電路分析、限線測試

7. 介電/磁性材料測量（選件 002）：|εr|、εr'、εr''、tanδ(ε)、|μr|、μr'、μr''、tanδ(μ)

8. 提供溫度特征測量（選件 007）和可靠的晶圓上測量（選件 010）

9. 提供溫度特征分析功能，并能夠直接得到介電常數(shù)和導磁率的讀數(shù)

10. 探頭臺連接套件（選件 010）可以在高達 3 GHz 的頻率范圍內提供準確的晶圓上或微型元器件阻抗測量解決方案