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BRUKER Dektak-XT 探針式表面輪廓儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 北京亞科晨旭科技有限公司
  • 品牌 Alicona/奧地利
  • 型號(hào) BRUKER Dektak-XT
  • 產(chǎn)地 馬來西亞
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2024/9/25 15:19:58
  • 訪問次數(shù) 1680

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公司自成立以來就一直專注于半導(dǎo)體、微組裝和電子裝配等領(lǐng)域的設(shè)備集成和技術(shù)服務(wù);目前公司擁有一支在半導(dǎo)體制造、微組裝及電子裝配等領(lǐng)域經(jīng)驗(yàn)豐富的專業(yè)技術(shù)團(tuán)隊(duì),專業(yè)服務(wù)于混合電路、光電模塊、MEMS、先進(jìn)封裝(TSV、Fan-out等)、化合物半導(dǎo)體、微波器件、功率器件、紅外探測(cè)、聲波器件、集成電路、分立器件、微納等領(lǐng)域。我們不僅能為客戶提供整套性能可靠的設(shè)備,還能根據(jù)客戶的實(shí)際生產(chǎn)需求制訂可行的工藝技術(shù)方案。
目前亞科電子已與眾多微電子封裝和半導(dǎo)體制造設(shè)備企業(yè)建立了良好的合作關(guān)系(如:BRUKER、EVG、TRYMAX、CAMTEK、CENTROTHERM、SENTECH、ENGIS、ADT、SONOSCAN、ASYMTEK、MARCH、PANASONIC、HYBOND、OKI、KEKO等),為向客戶提供先進(jìn)的設(shè)備和專業(yè)的技術(shù)服務(wù)打下了堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。

 

半導(dǎo)體設(shè)備,微組裝設(shè)備,LTCC設(shè)備,化工檢測(cè)設(shè)備

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 20萬(wàn)-30萬(wàn)
應(yīng)用領(lǐng)域 化工,石油,能源,電子

探針式表面輪廓儀介紹:

布魯克 DektakXT 臺(tái)階儀是一項(xiàng)創(chuàng)新性的設(shè)計(jì),可以提供更高的重復(fù)性和分辨率,測(cè)量重復(fù)性可以達(dá)到5?。臺(tái)階儀這項(xiàng)性能的提高達(dá)到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新的,更加鞏固了其行業(yè)地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測(cè)量,通過在研究工作中的廣泛使用,DektakXT一定能夠做到功能更強(qiáng)大,操作更簡(jiǎn)易,檢測(cè)過程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺(tái)階儀的技術(shù)突破,使納米尺度的表面輪廓測(cè)量成為可能,從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件,半導(dǎo)體,電池,高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。


探針系統(tǒng)的評(píng)價(jià)體系受三個(gè)因素影響:能否重復(fù)測(cè)量,數(shù)據(jù)采集和分析速度快慢,操作的難易程度。這些因素直接影響了數(shù)據(jù)的質(zhì)量和操作效率。DektakXT利用全新結(jié)構(gòu)和和軟件來實(shí)現(xiàn)可重復(fù)、時(shí)間短、易操作這三個(gè)必要因素,達(dá)到的儀器使用效果。


強(qiáng)化操作的可重復(fù)性 Delivering Repeatable Measurements,DektakXT在設(shè)計(jì)上的幾個(gè)提高,使其在測(cè)量臺(tái)階高度重復(fù)性方面具有優(yōu)異的表現(xiàn),臺(tái)階高度重復(fù)性可以到達(dá)5?.使用single-arch結(jié)構(gòu)比原先的懸臂梁設(shè)計(jì)更堅(jiān)硬持久不易彎曲損壞,而且降低了周圍環(huán)境中聲音和震動(dòng)噪音對(duì)測(cè)量信號(hào)的影響。同時(shí),Bruker還對(duì)儀器的智能化電子器件進(jìn)行完善,提高其穩(wěn)定性,降低溫度變化對(duì)它的影響,并采用先進(jìn)的數(shù)據(jù)處理器。在控制器電路中使用這些靈敏的電子元器件,會(huì)把可能引起誤差的噪音降到,DektakXT的系統(tǒng)因此可以更穩(wěn)定可靠的實(shí)現(xiàn)對(duì)高度小于10nm的臺(tái)階的掃描。Single-arch結(jié)構(gòu)和智能器件的聯(lián)用,大大降低了掃描臺(tái)的噪音,增強(qiáng)了穩(wěn)定性,使其成為一個(gè)競(jìng)爭(zhēng)力的臺(tái)階儀(表面輪廓儀)。


提高數(shù)據(jù)采集和分析速度 SpeedingUp Collectionand Analysis,利用*的直接掃描平臺(tái),DektakXT通過減少?gòu)牡玫皆紨?shù)據(jù)到扣除背底噪音所需要的時(shí)間,來提高掃描效率。這一改進(jìn),大大提高了大范圍掃描3D形貌或者對(duì)于表面應(yīng)力長(zhǎng)程掃描的掃描速度。在保證質(zhì)量和重復(fù)性的前提下,可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度提高40%。另外,DektakXT采用Bruker 64-Bit數(shù)據(jù)采集分析同步操作系統(tǒng)Vision64,它可以提高大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度,并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描時(shí)的數(shù)據(jù)分析處理效率。Vision64還具有效直觀的用戶界面,簡(jiǎn)化了實(shí)驗(yàn)操作設(shè)置,可以自動(dòng)完成多掃描模式,使很多枯燥繁復(fù)的實(shí)驗(yàn)操作變得更快速簡(jiǎn)潔。


完善的操作和分析系統(tǒng) PerfectingOperationand AnalysisDektakXT的創(chuàng)新性設(shè)計(jì)相得益彰的配置是Bruker的Vision64操作分析軟件。Vision64提供了操作上簡(jiǎn)潔的用戶界面,具備智能結(jié)構(gòu),可視化的使用流程,以及各種參數(shù)的自助設(shè)定以滿足用戶的各種使用要求,快速簡(jiǎn)便的實(shí)現(xiàn)各種類型數(shù)據(jù)的采集和分析。


探針式表面輪廓儀技術(shù)參數(shù):

—臺(tái)階高度重復(fù)性5?

—Single-arch設(shè)計(jì)大大提高了掃描穩(wěn)定性

—前置敏化器件,降低了噪音對(duì)測(cè)量的干擾

—新的硬件配置使數(shù)據(jù)采集能力提高了40%

—64-bit,這一Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件,使數(shù)據(jù)分析速度提高了十倍,功能,操作簡(jiǎn)易

—直觀的Vision64用戶界面操作流程簡(jiǎn)便易行

—針尖自動(dòng)校準(zhǔn)系統(tǒng)讓用戶更換針尖不再是難事,臺(tái)階儀(表面輪廓儀)領(lǐng)域無(wú)可撼動(dòng)的地位

—布魯克的臺(tái)階儀,體積輕巧,功能強(qiáng)大

—單傳感器設(shè)計(jì)提供了單一平面上低作用力和寬掃描范圍



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