MultiMode 8-HR 掃描探針顯微鏡

儀器簡介：

MultiMode平臺是世界上應用zui廣泛的掃描探針顯微鏡（SPM），已經在成功安裝使用了近萬套。它的成功基于其ling先的高分辨率和高性能，的多功能性，以及已經得到充分證實的效率和可靠性。現(xiàn)在，MultiMode掃描探針顯微鏡以其*的ScanAsyst模式，采用其良好的自動圖像優(yōu)化技術，使得用戶無論具備什么技能水平，也能在材料科學，生命科學，聚合物研究ling域的研究中zui迅速地獲得符合要求的研究成果。
           SPM的控制電路也是影響性能的重要因素，第五代的NanoScope V控制器具有良好的數(shù)字架構：具有高數(shù)據帶寬，低噪聲數(shù)據采集和的數(shù)據處理能力。布魯克的zui良好的技術已經開創(chuàng)工業(yè)上的新標準，例如：ScanAsyst 模式 & PeakForce QNM 模式。
          Multimode 的加熱和制冷裝置能對樣品進行加熱與制冷，適合于生物學，聚合物材料以及其他材料研究應用。采用加熱和制冷裝置后MULTIMODE 可在零下35ºC到250 ºC范圍內對樣品進行溫度控制；并可以在水，溶液或緩沖劑的液體環(huán)境中進行掃描。當在氣體環(huán)境下對樣品進行掃描時，采用環(huán)境控制艙可以在大氣壓標準下控制環(huán)境氣體的成分。

技術細節(jié)

AFM性能的*詮釋

MultiMode^®是世界上zui受歡迎的掃描探針顯微鏡，得到客戶的高度認可，迄今為止數(shù)以萬計的MultiMode^®掃描探針顯微鏡已經在成功安裝使用。其世界ling先的超高分辨率，完備的儀器性能，以及得到充分驗證的數(shù)據可靠性，奠定了其在AFMling域的ling導地位。

 簡便易行，輕松獲得專業(yè)結果

• 使用zui新的自動掃描成像模式ScanAsyst™，研究人員不必再去繁瑣地調整Setpoint、反饋增益和掃描速度等參數(shù)，不論是在大氣下還是在溶液中，都可以輕松獲得高質量圖像。
• 在溶液環(huán)境下掃描更簡便易行，它無需進行尋找探針的共振頻率，ScanAsyst始終直接控制針尖樣品間的作用力，這樣可以消除Setpoint。

功能強大的定量成像模式

• Bruker專li的新型成像模式PeakForce™ QNM™，可以對材料納米尺度的力學性質進行定量檢測，在正常的掃描速率下獲得高分辨率的材料粘附力和彈性模量圖像。與傳統(tǒng)的相位成像和某些廠家的多頻技術不同的是，使用Peakforce™ QNM™模式可獲得精確、定量的實驗數(shù)據。
• PeakForce TUNA™模塊，能夠定量測量樣品的導電特性，這是傳統(tǒng)的導電模式所不能實現(xiàn)的。
• 全新推出ScanAsyst-HR, 可以在MultiMode8上實現(xiàn)快速掃描模式。與傳統(tǒng)的AFM相比，在其速度提高6倍時仍不損失圖像分辨率，獲得超高分辨的AFM圖像。zui快掃描速度，可比傳統(tǒng)的AFM提高20倍。

具有zui高的分辨率和測試性能

• 迄今為止，利用MultiMode系列原子力顯微鏡，已發(fā)表大量高水平論文，幫助科學家們解決了
• 諸多重大前沿科研問題。MultiMode8采用結構緊湊的剛性設計，即使樣品的測試難度大，測試條件極為苛刻，也能實現(xiàn)低系統(tǒng)噪音，獲得超高分辨率的圖像。
• NanoScope®V控制器提供業(yè)界zui低的系統(tǒng)噪音和*的超高帶寬，大大提高了數(shù)據分析能力，適用于更多的研究ling域。
• Bruker*的Peak Force Tapping® 技術，精確控制針尖與樣品的作用力，可遠低于TappingMode™所需要的力。

功能完備，適用于各研究ling域

• 大氣或者溶液環(huán)境中，MultiMode8都能夠完成樣品檢測，以其超高分辨率和完備的功能，被廣泛應用于物理、化學、材料、電子以及生命科學等各個ling域。
• 在MultiMode8上可選配溫度調節(jié)和環(huán)境控制附件。加熱到250°C，冷卻至-35°C，或在水蒸氣和氧氣含量小于1ppm的手套箱中，都可以實現(xiàn)敏感樣品的檢測和成像。
• MultiMode8基本操作模式的基礎上選配不同功能的附件，可在高分辨成像的同時，獲得樣品的力學、電學、磁學、熱力學等各項性能指標 

技術參數(shù)：

1. 顯微鏡：多種可選Multimode SPM掃描頭
AS-0.5系列：橫向(X-Y)范圍0.4µm×0.4µm,豎直(Z)范圍0.4µm
AS-12系列：橫向(X-Y)范圍10µm×10µm,豎直(Z)范圍2.5µm
AS-130系列：橫向(X-Y)范圍125µm×125µm,豎直(Z)范圍5.0µm
PF50：橫向(X-Y)范圍40µm×40µm,豎直(Z)范圍20µm
2. 噪聲：垂直(Z)方向上的RMS值＜0.3埃 （帶防震系統(tǒng)的測量值）
3. 樣品大小：直徑≤15mm, 厚度≤5mm
4. 針尖/懸臂支架：
    空氣中輕敲模式/接觸模式(標準)
    液體中輕敲模式/力調制(可選) 
    空氣中力調制(可選)；電場模式(可選)
    掃描熱(可選-需要大的光學頭或者外加的應用組件)
    STM轉換器(可選)
    低電流STM轉換器(可選)；接觸模式液體池(可選)
    電化學AFM或STM液體池(可選)
    扭轉共振模式(可選)
5. 防震和隔音：
    硅膠共振模式(可選)
    防震三腳架(可選) ；防震臺(可選) 
    集成的防震臺和隔音罩(可選)

主要特點：

1. 世界上zui高的分辨率
2. 出眾的掃描能力
3. 優(yōu)異的可操作性
4. 非凡的靈活性與功能性
5. 無限的應用擴展性
Multimode可以實現(xiàn)全面的SPM表面表征技術，包括：
 輕敲模式(Tapping Mode AFM)
 接觸模式(Contact Mode AFM)
 自動成像模式(ScanAsyst)
 相位成像模式(Phase Imaging)
 橫向力術模式(laterial Force Microscopy, LFM)
 磁場力顯微術(Magnetic Force Microscopy, MFM)
 掃描隧道顯微術(Scanning Tunneling Microscopy, STM)
 力調制(Force Modulation)
 電場力顯微術(Electric Force Microscopy, EFM)
 掃描電容掃描術(Scanning Capacitance Mcroscopy, SCM)
 表面電勢顯微術(Surface Potential Microscopy)
 力曲線和力陣列測量(Force-Distance and Force Volume Measurement)
 納米壓痕/劃痕(Nanoindenting/Scratching)
 電化學顯微術(Electrochemical Microscopy, ECSTM and ECAFM)
 皮牛力譜(PicoForce Force Spectroscopy)
 隧道原子力顯微術(Tunneling AFM, TUNA)
 導電原子力顯微術(Conductive AFM, CAFM)
 掃描擴散電阻顯微術(Scanning Spreading Resistance Microscopy, SSRM)
 扭轉共振模式(Torsional Resonance mode, TR mode)
 壓電響應模式(Piezo Respnance mode, PR mode)
 其他更多模式....