爐前快速碳硅分析儀
爐前快速碳硅分析儀

    爐前快速碳硅分析儀能夠檢測(cè)分析鋼鐵中的碳、硅等元素的含量，而這些元素在鋼鐵中的含量對(duì)鋼鐵的質(zhì)量和性能有著重要的影響，因此爐前分析十分關(guān)鍵。

    用光譜儀進(jìn)行元素分析時(shí)，當(dāng)某一元素的譜線用來(lái)測(cè)量含量，其附近有一條譜線影響時(shí)，干擾校準(zhǔn)是必須的。如果光譜儀分辨率不能消除這條線的影響，則它將受到“干擾”，即元素的譜線，測(cè)量含量顯著增加，原因是存在一個(gè)疊加光強(qiáng)值。下面介紹下元素干擾的預(yù)防。

    由于存在譜線的重疊現(xiàn)象，光譜儀生產(chǎn)廠家在制造選擇譜線時(shí)盡量避開有干擾的元素，消除或減少這種干擾。

    元素干擾的預(yù)防方法有以下兩種：

    1、在待測(cè)材料中選擇不受干擾的譜線。例如，測(cè)量低含量鋁時(shí)，可選擇兩條靈敏線，Al線394.4nm和396.1nm。其中396.1nm比較靈敏，但受Mo的干擾。因此，往往選擇Al394.40nm用來(lái)測(cè)量鋼鐵中低含量的Al。一般光譜儀生產(chǎn)廠家都是根據(jù)基體材質(zhì)的情況選擇合適的譜線。

    2、用分辨率較大的光譜儀。一般長(zhǎng)焦距儀器可具有更大的分辨率，對(duì)同一級(jí)光譜儀來(lái)講，一臺(tái)3m的光譜儀分辨率比1m光譜儀更大，但3m或2m光譜的焦距比1m光譜儀更大。這樣，產(chǎn)生的問題是占據(jù)較大的空間，光學(xué)系統(tǒng)不夠穩(wěn)定，到達(dá)光電倍增管的光強(qiáng)也弱。為了克服這些問題選用衍射光柵的二級(jí)譜線。二級(jí)譜線的分辨率是一級(jí)光譜的兩倍。例如入射狹縫為25µm，出射狹縫寬度為88µm，其一級(jí)光譜的分辨率為0.0375nm，其二級(jí)光譜為0.0188nm。若入射狹縫寬度為10µm，其二級(jí)光譜的分辨率為0.0058nm。

    一般來(lái)講隨著光譜的級(jí)數(shù)增加，能量逐漸降低。在不是閃耀區(qū)域，二級(jí)譜線的強(qiáng)度，只是一級(jí)光譜強(qiáng)度的0.25倍。選用刻線為1440條/mm凹面光柵這是光譜波長(zhǎng)范圍和分辨率的主要因素。光譜儀包括了全部待測(cè)元素靈敏的波長(zhǎng)。一級(jí)譜線波長(zhǎng)范圍346.0-767.0nm，其中包括Na、Li、K的靈敏線。并在光學(xué)設(shè)計(jì)上沒有附加光路，波長(zhǎng)愈長(zhǎng)，干擾愈小。二級(jí)光譜波長(zhǎng)范圍是173.0-383.5nm，包括P、S、B等元素在其區(qū)域的靈敏線。此區(qū)域有發(fā)射光譜較佳的譜線和較好的分辨率。

     ，以上為光譜分析中元素干擾及預(yù)防干擾的相關(guān)介紹，做好這些工作，對(duì)于提高光譜分析的準(zhǔn)確度具有重要意義。