電渦流涂層測厚儀的基本工作原理是,當(dāng)測頭與被測試樣接觸時,測頭裝置所產(chǎn)生的高頻電磁場,使置于測頭下的金屬導(dǎo)體產(chǎn)生渦流,其振幅和相位是導(dǎo)體與測頭之間非導(dǎo)電覆蓋層厚度的函數(shù),即該渦流產(chǎn)生的交變電磁場會改變測頭參數(shù),而測頭參數(shù)變量的大小則取決于涂層的厚度。通過測量測頭參數(shù)變量的大小,并將這一電信號轉(zhuǎn)換處理,即可得到被測涂層的厚度值。其測量原理圖如下圖所示:
【南北潮商城】認(rèn)為該方法能夠適應(yīng)吸波涂層本身性質(zhì)和使用特點(diǎn),可以用來測量吸波涂層厚度。但是專文討論該方法的文獻(xiàn)中指出,對于不同電磁參數(shù)的涂層要經(jīng)過復(fù)雜的校正過程,才可以得到允許誤差范圍內(nèi)的測量結(jié)果。其測量樣品,都需的厚度均小于1 mm,在0.5 mm左右,量程范圍較小,因此該方法難以獲得實(shí)際的應(yīng)用。
進(jìn)一步分析發(fā)現(xiàn),所有利用磁性法(包括變磁阻法和電渦流法)都要求涂層為非磁性涂層,尚未發(fā)現(xiàn)有利用該方法的涂層測厚產(chǎn)品是針對磁性涂層的。在國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-85《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量渦流方法》(與標(biāo)準(zhǔn)IS02360-1982對應(yīng))中,對渦流測厚儀的標(biāo)準(zhǔn),操作程序和影響測量精度的因素及其注意事項(xiàng)作了詳細(xì)的闡述。
其中有關(guān)影響測量精度因素的條款,應(yīng)視作渦流涂層測厚儀開發(fā)應(yīng)用必須遵循的指導(dǎo)性文件,這些影響測量精度的主要因素包括.
1)覆蓋層厚度大于25μm時,其誤差與覆蓋層厚度近似成正比;
2)基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān);
3)任何一種測厚儀都要求基體金屬有一個臨界厚度,只有大于這個厚度,測量才不會受基體金屬厚度的影響;
4)渦流測厚儀對試樣測定存在邊緣效應(yīng),即對靠近試樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測量是不可靠的;
5)試樣的曲率對測量有影響,這種影響將隨著曲率半徑的減小明顯地增大;
6)基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測量精度,粗糙程度增加,影響增大;
7)渦流測厚儀對妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,因此測量前應(yīng)清除測頭和覆蓋層表面的污物;測量時應(yīng)使測頭與測試表面保持恒壓垂直接觸。
在這些因素中,(1) (5) (6) (7)是本課題會遇到的問題,需要重點(diǎn)考慮。另外,本課題中zui突出的特點(diǎn)是,吸波涂層不同于一般的覆蓋物,(1)它具有較強(qiáng)的鐵磁性,它的磁導(dǎo)率對線圈阻抗影響顯著;(2)它對交變磁場同樣會有渦流損耗,其影響同樣較大,不能忽略。而且,這兩者的影響都與涂層的厚度有著直接的關(guān)系,難以找出涂層厚度與測頭參數(shù)之間的數(shù)學(xué)關(guān)系。因此,這種方法也難以用于本課題中的磁性吸波涂層厚度的檢測。
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