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GBT 17554.1-2006 識(shí)別卡 測(cè)試方法 第1部分一般特性測(cè)試
IC卡彎曲韌性測(cè)試儀
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)參考：ISO7810、10373-1、GBT 17554.1-2006
CQM測(cè)試儀器參照：UHTM-408 IC卡彎曲韌性測(cè)試儀
5.7 彎曲韌性
本 測(cè) 試 的目的是確定卡的彎曲韌性是否在基本標(biāo)準(zhǔn)(見 GB/T 14916-2006)'，所設(shè)置的極限值范
圍內(nèi)。
5.7. 1 規(guī)程
在 測(cè) 試 前按 4.2預(yù)處理卡，并在 4.1定義的測(cè)試環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試。
將 卡 安 置在以下所述的各個(gè)儀器上，沿卡的整個(gè)左邊夾住它，正面朝上。
測(cè) 量 h, (見圖 7)
將 等 價(jià) 于0.7 N 的負(fù)載施加在卡的整個(gè)右邊的3m m范圍內(nèi) 1m in.測(cè)量 h2(見圖8),
移 去 負(fù) 載。
Im i n 后 ，測(cè)量 h3(見 圖 9),
5.7.2 測(cè)試報(bào)告
測(cè)試 報(bào) 告應(yīng)給出測(cè)得的hh:和 h:的值，以及計(jì)算出的負(fù)載下的偏移值(h,- h2)和與移去負(fù)載后
保持原始狀態(tài)相對(duì)的變形值(h,-h,),
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