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示波器的存儲深度與采樣率

來源:深圳市美孚科技有限公司   2015年03月28日 14:52  

示波器的存儲深度與采樣率


示波器的存儲、存儲深度

在選擇示波器時,工程師首先需要確定測量所需的帶寬。然而當(dāng)示波器的帶寬確定后,影響實際測量的恰恰是相互作用、相互制約的采樣率和存儲深度。圖1是數(shù)字示波器的工作原理簡圖。
                                   

  圖1數(shù)字--存儲示波器的原理組成框圖

輸入的電壓信號首先進(jìn)入示波器的前端放大器,放大器將信號放大或者衰減以調(diào)整信號的動態(tài)范圍,其輸出的信號由采樣/保持電路進(jìn)行采樣,并由A/D轉(zhuǎn)換器數(shù)字化。經(jīng)過A/D轉(zhuǎn)換后,信號變成數(shù)字形式存入存儲器中,微處理器對存儲器中的數(shù)字化信號波形進(jìn)行相應(yīng)的處理,并顯示在顯示屏上。這就是數(shù)字存儲示波器簡單的工作過程。

采樣、采樣速率

由于計算機(jī)只能處理離散的數(shù)字信號,模擬電壓信號進(jìn)入示波器后面臨的首要問題就是連續(xù)信號的數(shù)字化(模/數(shù)轉(zhuǎn)化)問題。

通過測量等時間間隔波形的電壓幅值,并把該電壓轉(zhuǎn)化為用8位二進(jìn)制代碼表示的數(shù)字信息,這就是DSO的采樣(見圖2)。每兩次采樣之間的時間間隔越小,那么重建出來的波形就越接近原始信號。采樣率(SamplingRate)就是采樣時間間隔的倒數(shù)。例如,如果示波器的采樣率是每秒10G次(10GSa/s),則意味著每100ps進(jìn)行一次采樣。
                                                 
  圖2示波器的采樣

采樣模式

采樣技術(shù)大體上分為兩類:實時模式和等效時間模式。

實時采樣(Real-TimeSampling)模式用來捕獲非重復(fù)性或單次信號,使用固定的時間間隔進(jìn)行采樣。觸發(fā)一次后,示波器對電壓進(jìn)行連續(xù)采樣,然后根據(jù)采樣點重建信號波形。

等效時間采樣(Equivalent-TimeSampling),是對周期性波形在不同的周期中進(jìn)行采樣,然后將采樣點拼接起來重建波形,為了得到足夠多的采樣點,需要多次觸發(fā)。等效時間采樣又包括順序采樣和隨機(jī)重復(fù)采樣兩種。使用等效時間采樣模式必須滿足兩個前提條件:1.波形必須是重復(fù)的;2.必須能穩(wěn)定觸發(fā)。

示波器絕大部分時間工作在實時采樣模式下,此時示波器的帶寬取決于ADC的zui高采樣速率和所采用的內(nèi)插算法。因此示波器的實時帶寬與DSO采用的內(nèi)插算法有關(guān)。

通常用有效存儲帶寬(BWa)來表征DSO的實際帶寬,其定義為:BWa=zui高采樣速率/K。對于單次信號,zui高采樣速率是指zui高實時采樣速率,即A/D轉(zhuǎn)化器的zui高速率;對于重復(fù)信號,是指zui高等效采樣速率。

K稱為帶寬因子,取決于DSO采用的內(nèi)插算法。DSO采用的內(nèi)插算法一般有線性(linear)插值和正弦(sinx/x)插值兩種。K在用線性插值時約為10,用正弦內(nèi)插約為2.5,而K=2.5只適用于重現(xiàn)正弦波,對于脈沖波,一般取K=4,此時,具有1GSa/s采樣率的DSO的有效存儲帶寬為250MHz。

這也解釋了示波器用于實時采樣時,為什么zui大采樣率通常是其額定模擬帶寬的四倍或以上。一般來說,采樣率總是越高越好。
                                             
   圖3不同插值方式的波形顯示存儲、存儲深度
根據(jù)Nyquist采樣定理,對于正弦波,每個周期至少需要兩次以上的采樣才能保證數(shù)字化后的脈沖序列能較為準(zhǔn)確的還原原始波形。如果采樣率低于Nyquist采樣率則會導(dǎo)致混疊(Aliasing)現(xiàn)象。

由Nyquist定理知道對于zui大采樣率為10GSa/s的示波器,可以測量zui高頻率為5GHz的信號,即采樣率的一半,這就是示波器的數(shù)字帶寬,而這個帶寬是DSO的上限頻率,實際帶寬是不可能達(dá)到這個值的,數(shù)字帶寬是從理論上推導(dǎo)出來的,是DSO帶寬的理論值。與我們經(jīng)常提到的示波器帶寬(模擬帶寬)是*不同的兩個概念。

在示波器中,把經(jīng)過A/D數(shù)字化后的八位二進(jìn)制波形信息存儲到示波器的高速CMOS存儲器中,就是示波器的存儲。存儲器的容量(存儲深度)是很重要的。在存儲深度一定的情況下,存儲速度越快,存儲時間就越短,它們之間是反比關(guān)系。所以:

存儲深度=采樣率×采樣時間

由此可見,提高示波器的存儲深度可以間接提高其采樣率:當(dāng)要捕獲較長的波形時,由于存儲深度是固定的,所以只能降低采樣率,但這樣勢必造成波形質(zhì)量的下降;如果增大存儲深度,則可以使用更高的采樣率,以獲取不失真的波形。

因此,存儲深度決定了DSO同時分析高頻和低頻現(xiàn)象的能力,包括低速信號的高頻噪聲和高速信號的低頻調(diào)制。

了解了采樣率和存儲深度后,就非常容易理解這兩個參數(shù)對于實際測量的影響。

1電源測量中長存儲的重要性

在常見的開關(guān)電源的測試中,開關(guān)頻率一般為200kHz左右或者更快,由于開關(guān)信號中經(jīng)常存在工頻調(diào)制,工程師需要捕獲工頻信號的四分之一周期或者半周期,甚至是多個周期。

開關(guān)信號的典型上升時間約為100ns,為保證的重建波形需要在信號的上升沿上有5個以上的采樣點,即采樣率至少為5/100ns=50MSa/s,也就是兩個采樣點之間的時間間隔要小于100/5=20ns,對于至少捕獲一個工頻周期的要求,意味著需要捕獲一段20ms長的波形,這樣可以計算出來示波器每通道所需的存儲深度=20ms/20ns=1M。

同樣,在分析電源上電的軟啟動過程中功率器件承受的電壓應(yīng)力的zui大值則需要捕獲整個上電過程(十幾毫秒),所需要的示波器采樣率和存儲深度甚至更高。

2存儲深度對FFT結(jié)果的影響

在DSO中,通過快速傅立葉變換(FFT)可以得到信號的頻譜,進(jìn)而在頻域?qū)σ粋€信號進(jìn)行分析。如電源諧波的測量需要用FFT來觀察頻譜,在高速串行數(shù)據(jù)的測量中也經(jīng)常用FFT來分析導(dǎo)致系統(tǒng)失效的噪聲和干擾。

對于FFT運算,存儲深度將同時決定可觀察信號成分的zui大范圍(奈奎斯特頻率)和頻率分辨率△f。如果奈奎斯特頻率為500MHz,分辨率為10kHz,若要獲得10kHz的分辨率,則采集時間至少為:
T=1/△f=1/10kHz=100ms

對于具有1M存儲器的數(shù)字示波器,可以分析的zui高頻率為:
△f×N/2=10kHz×1M/2=5GHz

因此長存儲能產(chǎn)生更好的FFT結(jié)果,既增加了頻率分辨率又提高了信號對噪聲的比率。

需要指出的是,對于長波形的FFT分析需要示波器*的數(shù)據(jù)處理能力,這往往超出了一般示波器的運算極限。力科示波器zui大可以做128M點的FFT。
                                         圖4用某示波器對18M數(shù)據(jù)做眼圖/抖動測量3高速串行信號分析需要真正意義的長存儲

當(dāng)使用示波器進(jìn)行抖動測試時,高速采集內(nèi)存長度是示波器進(jìn)行抖動測試的關(guān)鍵指標(biāo)。存儲深度不僅決定了一次抖動測試中樣本數(shù)的多少,還決定了示波器能夠測試的抖動頻率范圍。例如,用一個具有20GSa/s采樣率和1M存儲深度的示波器捕獲2.5Gb/s的信號,可得到50μs長的一段波形,意味著能捕獲到一個20kHz的低頻抖動周期。在相同采樣率下如果存儲深度增加到100M,則可以捕獲到200Hz的低頻抖動周期。

在眼圖測量中,由于高速串行總線的數(shù)據(jù)速率越來越高,需要示波器有更強(qiáng)的數(shù)據(jù)處理能力對大量的數(shù)據(jù)樣本做實時的眼圖分析。例如,對PCIE-G2的眼圖分析需要一次對1MUI的數(shù)據(jù)進(jìn)行測量,捕獲連續(xù)的1MUI的數(shù)據(jù)樣本即200μs,在40GSa/s的采樣率下,需要的存儲深度達(dá)到8M,這個數(shù)據(jù)量的處理很容易導(dǎo)致示波器處理速度非常慢甚至死機(jī)!因此某些品牌的示波器就只能借助軟件來完成,但軟件做眼圖的效率是很低的,對于定位及調(diào)試并不是很好的工具。

目前,基于X-StreamII架構(gòu)的第四代示波器提出了“可分析存儲深度”的觀念,在高采樣、長存儲下其運算和眼圖測量的速度比其他示波器快了2~50倍!可以從容應(yīng)對當(dāng)前及下一代高速串行總線的調(diào)試和分析。

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