儀器精度分析與設(shè)計
精度是光電儀器的一項重要技術(shù)指標(biāo),在一定程度上決定了儀器的用途和價值。尤其對于計量類光電儀器,精度是功能指標(biāo)中zui重要的一項。隨著科技的發(fā)展,計量類光電儀器需要達(dá)到的精度指標(biāo)越來越高,以半導(dǎo)體工業(yè)為例,目前個人計算機(jī)CPU線寬已達(dá)32nm,這就要求半導(dǎo)體的光刻設(shè)備和測量儀器本身的精度至少達(dá)到納米量級。毫不夸張地說,儀器測量精度的提高是制造技術(shù)發(fā)展的前提。
為了設(shè)計和實現(xiàn)這樣高精度的光電儀器,首先要對現(xiàn)有儀器進(jìn)行精度分析,找出誤差產(chǎn)生的根源和規(guī)律,分析誤差對儀器設(shè)備精度的影響,評價該儀器的精度。精度分析一方面是確定已有儀器指標(biāo)*的步驟,另一方面也有助于提出改進(jìn)措施,進(jìn)一步優(yōu)化儀器設(shè)計,提高精度指標(biāo)。
對于新儀器設(shè)計來說,精度設(shè)計或者精度分配更是重要的內(nèi)容。精度分配是在精度分析的基礎(chǔ)上,針對系統(tǒng)總精度指標(biāo),對各個子單元的精度進(jìn)行分配,遵循一定的設(shè)計原則選擇合理的儀器方案,完成元件選型,設(shè)計正確的補償方式,在保證經(jīng)濟(jì)性的基礎(chǔ)上達(dá)到高的精度。
本章主要從精度分析和精度設(shè)計兩方面闡述儀器精度理論與方法,主要內(nèi)容包括:各項誤差的來源與特性,誤差的評定和估計方法,誤差的傳遞、轉(zhuǎn)化和合成的規(guī)律;誤差分配的原則和方法,提高儀器精度的設(shè)計原則,誤差補償?shù)乃悸泛头椒ǖ?。由于儀器精度分析和設(shè)計都是實用性很強(qiáng)的理論方法,因此本章結(jié)合若干光電儀器的實例,對其理論方法進(jìn)行具體說明,便于讀者理解和掌握。
▲儀器的誤差與精度
一、誤差的基本概念
1.誤差的定義
測量誤差△i是指測得值xi與標(biāo)稱值(或真值)x0之間的差。即
式中,i為測量次數(shù)。
誤差的大小反映了測量值對于標(biāo)稱值的偏離程度。誤差是客觀存在的,無論測量手段精度多高,誤差都不會為零。多次重復(fù)測量某物理量時,各次測定值并不相同,這是誤差不確定性的表現(xiàn)。真實的誤差值是未知的,因為通常真值是未知的。為了能正確表達(dá)誤差,人們根據(jù)對誤差認(rèn)知的準(zhǔn)確度和可信度的要求,確定了以下方法來獲得真值:
1)理論真值(即名義值):設(shè)計時給定的或是用數(shù)學(xué)、物理公式計算的理論值,例如零件的名義尺寸等。
2)約定真值:世界各國*的一些幾何量和物理量的zui高基準(zhǔn)的量值,如作為長度基準(zhǔn)的單位米,其定義為光在真空中1/299792458s時間間隔內(nèi)所經(jīng)路徑的長度。
3)相對真值:當(dāng)器與準(zhǔn)確度高一個等級的儀器比較時,可將該準(zhǔn)確度高一個等級的儀器標(biāo)的測量值視為“真值”,或稱其為相對真值或標(biāo)準(zhǔn)值。
2.誤差的表示方法
誤差可以用誤差和相對誤差兩種方式表達(dá)。誤差是指測得值x與被測量真值x0之差。誤差具有量綱,能反映出誤差的大小和方向,但不能反映出測量的精細(xì)程度。誤差△可表示為
誤差與被測量真值的比值稱為相對誤差。相對誤差無量綱,但它能反映測量工作的精細(xì)程度。相對誤差δ可以表示為
3.誤差分類
按照誤差的數(shù)學(xué)特征可以分為:
1)系統(tǒng)誤差(SystematicError):系統(tǒng)誤差的大小和方向在測量過程中恒定不變,或按一定的規(guī)律變化。一般來說,系統(tǒng)誤差是可以用理論計算或?qū)嶒灧椒ㄇ蟮?,可預(yù)測它的出現(xiàn),并可以進(jìn)行調(diào)節(jié)和修正的。
2)隨機(jī)誤差(RandomError):隨機(jī)誤差是由一些獨立因素的微量變化綜合影響造成的。其數(shù)值的大小和方向往往沒有確定性規(guī)律,不可預(yù)見,但就其總體來說服從統(tǒng)計規(guī)律。常見的大多數(shù)隨機(jī)誤差服從正態(tài)分布。
3)粗大誤差(Gross Error):粗大誤差指明顯超出統(tǒng)計規(guī)律預(yù)期的誤差。其產(chǎn)生的原因主要是由于某些突發(fā)性的異常因素或疏忽所致。由于該誤差的數(shù)值一般較大,所以按照一定的準(zhǔn)則進(jìn)行判別,就可以將含有粗大誤差的測量數(shù)據(jù)剔除。
按照被測參數(shù)的時間特性,誤差可以分為:
1)靜態(tài)參數(shù)誤差:不隨時間變化或隨時間緩慢變化的被測參數(shù)稱為靜態(tài)參數(shù),測定靜態(tài)參數(shù)所產(chǎn)生的誤差稱為靜態(tài)參數(shù)誤差。
2)動態(tài)參數(shù)誤差:被測參數(shù)是時間的函數(shù),這樣的參數(shù)稱為動態(tài)參數(shù)。測定動態(tài)參數(shù)所產(chǎn)生的誤差稱為動態(tài)參數(shù)誤差。
按照誤差間的關(guān)系可分為:
1)獨立誤差:彼此相互獨立、互不相關(guān)、互不影響昀誤差稱為獨立誤差。
2)非獨立誤差(或相關(guān)誤差):一種誤差的出現(xiàn)與其他的誤差相關(guān)聯(lián),這種彼此相關(guān)聯(lián)的誤差稱為非獨立誤差。在進(jìn)行誤差間的關(guān)聯(lián)計算時,其相關(guān)系數(shù)不為零。
4.多次重復(fù)測量數(shù)據(jù)的處理
利用儀器進(jìn)行物理量的測量時,多次測量的結(jié)果往往不一致,這就是因為每次測量的數(shù)據(jù)中都含有誤差的緣故。在滿足正態(tài)分布的重復(fù)測量條件下,假設(shè)進(jìn)行了n次測量,其結(jié)果分別為xi(i=1,2,…,n)為了合理表示該重復(fù)測量的結(jié)果,通常按以下步驟進(jìn)行:
1)算術(shù)平均值:即所有測量值的算術(shù)平均值,常用來作為該多次測量的*估計。 算術(shù)平均值表示為
2)殘佘誤差:-每個測量值與算術(shù)平均值的差值,反映當(dāng)次測量與平均結(jié)果的偏差。
3)單次測量的標(biāo)準(zhǔn)差σ:反映多次測量結(jié)果的分散程度,用來衡量隨機(jī)誤差的大小。 單次測量的標(biāo)準(zhǔn)差σ表示為
得到單次測量的標(biāo)準(zhǔn)差之后,對測量中出現(xiàn)的粗大誤差可以按統(tǒng)計準(zhǔn)則判斷并剔除其中該含有粗大誤差的異常數(shù)據(jù)。例如,在大樣本測量的基礎(chǔ)上,如果隨機(jī)誤差服從正態(tài)分布, 殘余誤差分布在± 3σ以外的概率僅為0.3%,就可依據(jù)3σ準(zhǔn)則對粗大誤差進(jìn)行剔除。當(dāng) 時,認(rèn)為該次測量xi出現(xiàn)粗大誤差,擬從測量結(jié)果中舍去該次測量的數(shù)據(jù)。不過這一準(zhǔn)則是基于樣本數(shù)大于50的正態(tài)樣本數(shù)據(jù)的統(tǒng)計推理的結(jié)果,在測量次數(shù)小于10時,按式(3-5),可以得知,一個異常數(shù)據(jù)無論如何遠(yuǎn)離其他(n-1)個數(shù)據(jù),都不會出現(xiàn)。對于通常樣本數(shù)小于10的情形,可按誤差理論介紹的諸如格拉布斯準(zhǔn)則和狄克遜準(zhǔn)則來進(jìn)行統(tǒng)計判斷。
剔除粗大誤差后按照式(3-5)重新計算標(biāo)準(zhǔn)差σ,得到合理的單次測量均方誤差。
4)算術(shù)平均值的均方誤差σp:得到剔除粗大誤差后的單次測量均方誤差后,再進(jìn)行m次測量,取算術(shù)平均值,對應(yīng)的隨機(jī)誤差將減小至原來的。這反映的是,多次測量可以減小測量結(jié)果包含的隨機(jī)誤差。需要注意的是,系統(tǒng)誤差并不能通過多次測量消除。算術(shù)平均值的均方誤差σp表示為
5)重復(fù)測量結(jié)果的極限誤差△max:根據(jù)誤差分布接近正態(tài)的數(shù)學(xué)性質(zhì),按高的置信概率,測量結(jié)果的極限誤差△max常取為
6)重復(fù)測量的結(jié)果:由兩部分組成,算術(shù)平均值可視為該測量結(jié)果接近真值的一種*估計,極限誤差則反映了該測量結(jié)果的隨機(jī)誤差大小。
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