恒溫恒濕試驗箱用途:
恒溫恒濕試驗箱適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗; 恒溫恒濕試驗箱是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備; 恒溫恒濕試驗箱特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗。
恒溫恒濕試驗箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):
* GJB150.3-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 高溫試驗
* GJB150.4-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 低溫試驗
* GJB150.5-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 濕度試驗
* IEC60068-2-1.1990低溫試驗箱試驗方法
* IEC60068-2-2.1974高溫試驗箱試驗方法
* GB10586-2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件
* GB10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件
* GB10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件
* GB/T10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件
* GB11158 高溫試驗箱技術(shù)條件
* GB/2423.22-2001溫度變化試驗方法
* GB/T2424.6-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度/濕度試驗箱性能確認
* GB/T2423.4-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db: 交變濕熱試驗方法
* GB/T2423.34-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗,試驗方法試驗Z/AD:溫度/濕度 組合循環(huán)試驗
* GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 : 試驗方法 試驗A:低溫
* GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗: 試驗方法 試驗B; 高溫
* GB/T2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Cab 恒定濕熱試驗
* GB/T2424.1-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 高溫低溫試驗導(dǎo)則
* GB/T2424.2-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 濕熱試驗導(dǎo)則
* GB/T2424.5-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度試驗箱性能確認
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