試驗(yàn)項(xiàng)目 | 試驗(yàn)條件 | 試驗(yàn)方法 | 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) |
高溫/低溫工作 | -10℃ / 55℃ | 手機(jī)開機(jī)放入溫度實(shí)驗(yàn)箱。2小時(shí)后,進(jìn)行電性能檢查。 | 手機(jī)電性能指標(biāo)滿足要求,功能正常,外殼無(wú)變形。 |
中溫高濕 | +40℃, 93%RH | 手機(jī)開機(jī)放入溫度實(shí)驗(yàn)箱。48小時(shí)后,進(jìn)行電性能檢查。 | 手機(jī)電性能指標(biāo)滿足要求,功能正常,外殼無(wú)變形。 |
高溫/低溫存儲(chǔ) | -30℃ / +70℃ | 手機(jī)關(guān)機(jī)放入溫度實(shí)驗(yàn)箱。24小時(shí)后,取出,并放置2小時(shí),恢復(fù)至常溫,然后進(jìn)行電性能檢查。 | 手機(jī)電性能指標(biāo)滿足要求,功能正常,外殼無(wú)變形。 |
高溫高濕 | 60℃,90%RH | 手機(jī)關(guān)機(jī)放入溫度實(shí)驗(yàn)箱,60小時(shí)后取出,恢復(fù)4小時(shí),然后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。 | 手機(jī)各項(xiàng)功能正常,外殼無(wú)變形。 |
鹽霧測(cè)試 | 35℃, 5%的Nacl溶液 | 手機(jī)關(guān)機(jī)放入鹽霧試驗(yàn)箱內(nèi),用繩子懸掛起來(lái)。實(shí)驗(yàn)周期是48個(gè)小時(shí)。 取出樣機(jī),放置48小時(shí)進(jìn)行常溫干燥,對(duì)其進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。 | 手機(jī)各項(xiàng)功能正常,外殼表面及裝飾件無(wú)明顯腐蝕等異?,F(xiàn)象。 |
溫度沖擊 | -30℃ (45分鐘) +70℃ (45分鐘) | 手機(jī)關(guān)機(jī)放入沖擊試驗(yàn)箱內(nèi),高溫低溫循環(huán)27次。取出樣機(jī),恢復(fù)2小時(shí)后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。 | 手機(jī)各項(xiàng)功能正常,外殼無(wú)異變。 |
振動(dòng) | 振幅:0.38mm; 振頻:10~30Hz; 振幅:0.19mm; 振頻:30~55Hz; | 手機(jī)開機(jī)放入振動(dòng)箱。X、Y、Z三個(gè)軸向分別振動(dòng)1個(gè)小時(shí)之后取出,然后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。 | 振動(dòng)前5分鐘內(nèi)手機(jī)內(nèi)存和設(shè)置沒(méi)有丟失現(xiàn)象,后55分鐘可以出現(xiàn)關(guān)機(jī)現(xiàn)象, 手機(jī)各項(xiàng)功能正常,尤其是顯示和SPL,外殼無(wú)嚴(yán)重?fù)p傷,內(nèi)部組件無(wú)脫落。 |
跌落試驗(yàn) | 1.5米高 | 手機(jī)關(guān)機(jī),6個(gè)面,每個(gè)面跌落一次,然后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。 | 手機(jī)各項(xiàng)功能正常,外殼無(wú)變形。 |
7cm高,20,000次 | 手機(jī)關(guān)機(jī),在一個(gè)混凝土臺(tái)面上低位跌落20,000次,一個(gè)產(chǎn)品正面朝下跌落,一個(gè)產(chǎn)品背面朝下跌落,然后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。 | |
-10℃, 1.2米高 | 手機(jī)關(guān)機(jī)放入低溫跌落試驗(yàn)箱,2小時(shí)后,進(jìn)行跌落試驗(yàn),然后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。 | |
砂塵測(cè)試 | 15~35℃, 45~75%RH條件下,灰塵濃度:6±1g/m3,氣流速度2m/s | 手機(jī)關(guān)機(jī)放入耐塵試驗(yàn)箱,每間隔59分鐘吹塵1次,時(shí)間1分鐘,4天后取出,并放置2小時(shí),恢復(fù)至常溫,然后進(jìn)行電性能、機(jī)械性能的檢查。 | 手機(jī)各項(xiàng)功能正常,外殼無(wú)異變 |