我司銷售的磁光學(xué)光譜儀(HO-A216FR/KRORMS)
Holmarc 推出了一種新型創(chuàng)新的高靈敏度和高磁場光譜法拉第/克爾效應(yīng)測量設(shè)備,采用 VIS-NIR 波長。HOLMARC A216 FR/KR 測試站提供標(biāo)
準(zhǔn)化的測試解決方案,適用于各種光學(xué)旋轉(zhuǎn)測量應(yīng)用。模塊化硬件設(shè)計(jì)允許用戶在一臺儀器中自動測量法拉第效應(yīng)、MOKE 和橢偏儀。
專為磁光學(xué)材料研究和測試而設(shè)計(jì),包括鐵磁和鐵磁薄膜和材料的磁特性分析。測量包括超薄磁性薄膜和多層膜的磁滯回線、橢圓度測量、介電材
料薄膜厚度測量、折射率、Delta 和 Psi 測量等。系統(tǒng)可在極性、縱向和橫向配置下運(yùn)行。
規(guī)格
光源: Spectra 氘燈/鹵素?zé)艋螂?/span>
單色儀 : Quasar 300F Czerny-Turner 型
波長范圍:380 - 850 納米
準(zhǔn)直和聚焦鏡:50 毫米直徑,300 F
光學(xué)光柵:1200 l / mm
光譜色散:2.6 nm / mm
光柵尺寸:50 x 50 毫米
絕對衍射效率:45 - 65
狹縫寬度:0 ~ 3 mm 連續(xù)可調(diào)
分辨率:0.1 納米
波長精度:0.2 nm
波長重復(fù)性:0.1 nm
雜散光:10-3
線性色散的倒數(shù):2.7 毫米
光譜線半寬:0.2 nm @ 586 nm
偏振分析方法:旋轉(zhuǎn)分析方法
ARMS : 步進(jìn)電機(jī)控制自動定位
光斑直徑:1 - 5 毫米
薄膜支架 樣品尺寸:1 - 12 mm
(可根據(jù)要求提供定制支架)
比色皿:10 毫米路徑長度石英比色皿
樣品室選項(xiàng):高/低溫樣品架
樣品進(jìn)樣裝置:步進(jìn)電機(jī)控制自動定位系統(tǒng)
電磁單元:PC 控制恒流操作
冷卻方式:水冷
最大磁場:1.75 特斯拉 @ 12 毫米磁極間隙
最小磁場 磁場檢測:1 高斯
磁場精確度:± 0.05
磁場檢測:基于霍爾探針(基于 PC 的磁場測量)
磁場反饋 : 霍爾元件
冷卻器:5 ~ 25°C 冷凍水(用于冷卻電磁鐵)
容量:2 升/分鐘
電磁鐵電源:雙極型(最大 ± 90 V/5A)
2.5 千伏安交流 220 伏 50 赫茲
控制裝置:1 kVA AC 220V 50Hz
軟件 : Spectra ORMS 軟件
性能
光學(xué)旋轉(zhuǎn)分辨率:± 0.009 度
檢測靈敏度:0.009 度(透明度大于 20%時(shí))
穩(wěn)定性:0.03 度(透明度大于 20%時(shí))
橢圓度測量:± 0.01 度
光學(xué)旋轉(zhuǎn)測量范圍:± 90 度
測量波長范圍:380 - 850 納米
光譜帶寬:1 納米(可變帶通高達(dá) 10 納米)
最大磁場:11,000 高斯 @ 20 毫米極間隙
最小磁場 磁場檢測:1 高斯
磁場精確度:± 0.05
測量項(xiàng)目
或 具有法拉第效應(yīng)的薄膜、晶體、流體等的測量
測量透明固體和液體的維爾德常數(shù)
法拉第旋轉(zhuǎn)角/橢圓角
極性克爾旋轉(zhuǎn)角/橢圓角
所需波長下的磁場與法拉第旋轉(zhuǎn)角特性的關(guān)系
法拉第旋轉(zhuǎn)角 vs. 波長色散特性
法拉第旋轉(zhuǎn)角與熱依賴性(可選)
測量光學(xué)特性
光學(xué)旋轉(zhuǎn)
薄膜厚度
折射率
吸收系數(shù)
光導(dǎo)率
相速度
群指數(shù)
布儒斯特角
空氣折射率
摩爾折射率
光子能量
典型動量
動量
群速度
PSI - Δ
ε1和2
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