改善晶圓出刀TTV(Total Thickness Variation,總厚度變化量)異常的加工方法主要包括以下幾種:
一、設(shè)備調(diào)整與優(yōu)化
主軸與承片臺(tái)角度調(diào)整
通過設(shè)備自動(dòng)控制,進(jìn)行工藝角度調(diào)整,減小晶圓TTV值。這通常涉及調(diào)整主軸或承片臺(tái)的角度,使磨輪與承片臺(tái)之間呈一定的夾角,以獲得較好的晶圓減薄表面質(zhì)量并控制TTV。
設(shè)備精度校準(zhǔn)
確保設(shè)備的精度,包括導(dǎo)輪徑向跳動(dòng)和軸向跳動(dòng)的校準(zhǔn),以減少因設(shè)備精度問題導(dǎo)致的TTV異常。
二、磨削工藝優(yōu)化
磨削參數(shù)調(diào)整
優(yōu)化磨削參數(shù),如磨削速度、磨削壓力、磨削液流量等,以改善磨削效果并減少TTV異常。
磨輪選擇與優(yōu)化
選擇合適的磨輪材質(zhì)和粒度,以確保磨削過程中晶圓表面的均勻性和穩(wěn)定性。同時(shí),定期檢查和更換磨損嚴(yán)重的磨輪,以避免因磨輪問題導(dǎo)致的TTV異常。
在線監(jiān)測(cè)與反饋調(diào)整
采用非接觸式在線測(cè)量裝置對(duì)晶圓厚度進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè),并根據(jù)測(cè)量結(jié)果對(duì)磨削參數(shù)進(jìn)行反饋調(diào)整,以進(jìn)一步減小TTV值。
三、原材料與工藝控制
原材料質(zhì)量控制
確保晶圓原材料的均勻性和穩(wěn)定性,避免因原材料問題導(dǎo)致的TTV異常。
工藝過程控制
在晶圓加工過程中,嚴(yán)格控制各道工序的工藝參數(shù)和操作規(guī)范,以確保晶圓表面的均勻性和穩(wěn)定性。例如,在晶圓減薄過程中,要控制磨削砂輪和晶圓片的接觸長(zhǎng)度、接觸面積和切入角等參數(shù)。
四、其他輔助措施
加強(qiáng)設(shè)備維護(hù)與保養(yǎng)
定期對(duì)設(shè)備進(jìn)行維護(hù)和保養(yǎng),包括清潔、潤(rùn)滑和更換易損件等,以確保設(shè)備的正常運(yùn)行和精度。
提高操作人員技能水平
通過培訓(xùn)和實(shí)踐,提高操作人員的技能水平和質(zhì)量意識(shí),以減少因操作不當(dāng)導(dǎo)致的TTV異常。
綜上所述,改善晶圓出刀TTV異常的加工方法需要從設(shè)備調(diào)整與優(yōu)化、磨削工藝優(yōu)化、原材料與工藝控制以及其他輔助措施等多個(gè)方面入手。通過綜合運(yùn)用這些方法,可以有效降低晶圓TTV值,提高晶圓質(zhì)量和生產(chǎn)效率。
五、高通量晶圓測(cè)厚系統(tǒng)
高通量晶圓測(cè)厚系統(tǒng)以光學(xué)相干層析成像原理,可解決晶圓/晶片厚度TTV(Total Thickness Variation,總厚度偏差)、BOW(彎曲度)、WARP(翹曲度),TIR(Total Indicated Reading 總指示讀數(shù),STIR(Site Total Indicated Reading 局部總指示讀數(shù)),LTV(Local Thickness Variation 局部厚度偏差)等這類技術(shù)指標(biāo);
高通量晶圓測(cè)厚系統(tǒng),全新采用的第三代可調(diào)諧掃頻激光技術(shù),傳統(tǒng)上下雙探頭對(duì)射掃描方式,可兼容2英寸到12英寸方片和圓片,一次性測(cè)量所有平面度及厚度參數(shù)。
1,靈活適用更復(fù)雜的材料,從輕摻到重?fù)?P 型硅 (P++),碳化硅,藍(lán)寶石,玻璃,鈮酸鋰等晶圓材料。
重?fù)叫凸瑁◤?qiáng)吸收晶圓的前后表面探測(cè))
粗糙的晶圓表面,(點(diǎn)掃描的第三代掃頻激光,相比靠光譜探測(cè)方案,不易受到光譜中相鄰單位的串?dāng)_噪聲影響,因而對(duì)測(cè)量粗糙表面晶圓)
低反射的碳化硅(SiC)和鈮酸鋰(LiNbO3);(通過對(duì)偏振效應(yīng)的補(bǔ)償,加強(qiáng)對(duì)低反射晶圓表面測(cè)量的信噪比)
絕緣體上硅(SOI)和MEMS,可同時(shí)測(cè)量多層結(jié)構(gòu),厚度可從μm級(jí)到數(shù)百μm 級(jí)不等。
可用于測(cè)量各類薄膜厚度,厚度可低至4μm ,精度可達(dá)1nm。
可調(diào)諧掃頻激光的“溫漂”處理能力,體現(xiàn)在復(fù)雜工作環(huán)境中抗干擾能力強(qiáng),一改過去傳統(tǒng)晶圓測(cè)量對(duì)于“主動(dòng)式減震平臺(tái)”的重度依賴,成本顯著降低。
2,靈活的運(yùn)動(dòng)控制方式,可兼容2英寸到12英寸方片和圓片測(cè)量。
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