FSM-6000LE 玻璃表面應(yīng)力計(jì)-應(yīng)力儀_應(yīng)力測(cè)試儀廠家直銷(xiāo)
X射線衍射法是目前準(zhǔn)確可靠的殘余應(yīng)力測(cè)量方法之一
殘余應(yīng)力測(cè)量是指材料在無(wú)外力作用下,內(nèi)部保持自平衡的應(yīng)力狀態(tài)。它在機(jī)械加工、熱處理、焊接等過(guò)程中產(chǎn)生,并影響材料的疲勞壽命、應(yīng)力腐蝕和尺寸穩(wěn)定性。因此,準(zhǔn)確測(cè)量殘余應(yīng)力對(duì)于保障工程結(jié)構(gòu)和機(jī)械零部件的可靠性至關(guān)重要。
無(wú)損檢測(cè)法通過(guò)物理手段測(cè)量材料內(nèi)部的物理量變化,間接推算殘余應(yīng)力,主要包括X射線衍射法、中子衍射法、磁性法和超聲法。
1.X射線衍射法
X射線衍射法是目前準(zhǔn)確可靠的殘余應(yīng)力測(cè)量方法之一。其基本原理是根據(jù)X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象,通過(guò)測(cè)量晶面間距的變化來(lái)推算殘余應(yīng)力。具體步驟如下:
-準(zhǔn)備樣品:將樣品固定在測(cè)角臺(tái)上,確保表面平整。
-根據(jù)布拉格定律計(jì)算晶面間距的變化,進(jìn)而推算殘余應(yīng)力。
X射線衍射法的優(yōu)點(diǎn)是測(cè)量精度高,理論完善,適用廣泛。但其設(shè)備昂貴,對(duì)樣品表面要求高,且只能測(cè)量表面應(yīng)力。
2.中子衍射法
中子衍射法的原理與X射線衍射法相似,但采用中子作為入射束。由于中子具有較強(qiáng)的穿透能力,可以測(cè)量材料內(nèi)部深處的殘余應(yīng)力。
-準(zhǔn)備樣品:將樣品放入中子衍射儀的反應(yīng)堆孔道中。
-根據(jù)衍射角變化計(jì)算殘余應(yīng)力。
中子衍射法的優(yōu)點(diǎn)是能測(cè)量材料內(nèi)部的三維應(yīng)力分布,但對(duì)設(shè)備要求高,需在核反應(yīng)堆中進(jìn)行,成本高昂。
3.磁性法
磁性法基于鐵磁材料的磁致伸縮效應(yīng),即在磁場(chǎng)作用下材料發(fā)生尺寸變化。通過(guò)測(cè)量磁導(dǎo)率變化,推算殘余應(yīng)力。具體步驟如下:
-將工件置于強(qiáng)磁場(chǎng)中,測(cè)量初始磁導(dǎo)率。
-改變磁場(chǎng)強(qiáng)度,記錄磁導(dǎo)率變化。
-根據(jù)磁導(dǎo)率變化計(jì)算殘余應(yīng)力。
磁性法的優(yōu)點(diǎn)是非破壞性,適用于大型構(gòu)件。但其精度受材料磁特性影響較大,適用范圍有限。
相關(guān)產(chǎn)品
免責(zé)聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來(lái)源:化工儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用,并注明“來(lái)源:化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來(lái)源(非化工儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)和對(duì)其真實(shí)性負(fù)責(zé),不承擔(dān)此類(lèi)作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí),必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來(lái)源,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問(wèn)題,請(qǐng)?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。