XRF儀中所用的探測器主要類型有哪些
發(fā)布時(shí)間:2021-01-25 17:43:48 點(diǎn)擊次數(shù):1981
XRF(X熒光光光譜儀)探測器是用來接收X射線并把它轉(zhuǎn)變成可測量的或可觀察的量?,F(xiàn)在探測器有流氣式正比計(jì)數(shù)器、封閉式正比計(jì)數(shù)器、閃爍計(jì)數(shù)器以及應(yīng)用于X射線熒光能譜分析上的半導(dǎo)體探測器。
(1)流氣式正比計(jì)數(shù)器。它主要用來探測波長在0.2~1.5nm的X射線,通常用厚2~6μm,并喯鍍鋁的聚酯膜作窗口材料,充有90%氬和10%甲烷的混合氣體。由于窗口如此薄,探測器很容易漏氣,故需不斷補(bǔ)充新鮮氣體,氣體的流量一般為1.6~3.2L/min。近年來,為了探測超軟X射線(波長達(dá)1~10nm),窗口常采用1μm的聚丙烯或聚碳酸酯薄膜,甲烷的含量可高達(dá)100%或用氦氣。流氣式正比計(jì)數(shù)器的能量分辨率僅次于半導(dǎo)體探測器,對(duì)FeKaⅠ線的分辨率均為10%~20%,是閃爍計(jì)數(shù)器的2~3倍。它的計(jì)數(shù)分辨時(shí)間與閃爍計(jì)數(shù)器相仿,適用于高達(dá)105~106cps(即脈沖/s)的計(jì)數(shù)。充氬或充氪的正比計(jì)數(shù)器有較大的逸出峰。當(dāng)流氣式正比計(jì)數(shù)器的窗薄破損或陽極絲沾污時(shí)可進(jìn)行更換或清洗。
(2)封閉式正比計(jì)數(shù)器。根據(jù)填充的氣體氦、氖、氬、氪、氙不同,可探測波長在0.03~0.4nm的X射線。
(3)閃爍計(jì)數(shù)器。它主要用來探測波長在0.01~0.3nm的X射線,可記錄高達(dá)106~107cps的計(jì)數(shù)。它是由一塊用激活的密封于鈹窗內(nèi)的碘化鈉(NaⅠ(T1))晶體和一個(gè)光電倍增管所組成。它對(duì)高能量的X射線具有比較吸收能力,而對(duì)6keV以下的低能量X射線探測效率較差。這正好同流氣式正比計(jì)數(shù)器的探測效率形成互補(bǔ)。為此,目前有些儀器廠商在閃爍計(jì)數(shù)器前面串聯(lián)一個(gè)流氣式正比計(jì)數(shù)器,低能量的軟X射線主要被流氣式正比計(jì)數(shù)器接收,而未接收的能量較高的硬X射線被閃爍計(jì)數(shù)器接收。這種串聯(lián)裝置可有效地提高測定鉻至銅之間元素的計(jì)數(shù)強(qiáng)度。
(4)鋰漂移硅和鋰漂移鍺探測器[記作Si(Li)和Ge(Li)半導(dǎo)體探測器]。其優(yōu)點(diǎn)是有分辨率,良好的線性響應(yīng),壽命長和工作性能穩(wěn)定等。它在常溫下的噪聲可達(dá)幾十電子伏特以上。當(dāng)用于X射線測量時(shí),它必須在液氮保護(hù)下進(jìn)行低溫操作。因此在應(yīng)用上受到了限制。
(5)Si-Pin探測器和SDD探測器,最近幾年工業(yè)化的新技術(shù),具有高分辨率,高穩(wěn)定性,幾年甚至幾十年都可以長期穩(wěn)定的使用,無需外部制冷和充氣.
相關(guān)產(chǎn)品
免責(zé)聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來源:化工儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用,并注明“來源:化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源(非化工儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)和對(duì)其真實(shí)性負(fù)責(zé),不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí),必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請(qǐng)?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。