數顯磁性測厚儀分類：

測厚儀按照測量的方式不同，可大致分為：

1、接觸式測厚儀

接觸面積大小劃分：

▲點接觸式測厚儀

▲面接觸時測厚儀

2、非接觸式測厚儀

非接觸式測厚儀根據其測試原理不同，又可分為以下幾種：

▲激光測厚儀

▲超聲波測厚儀

▲涂層測厚儀

▲X射線測厚儀

▲白光干涉測厚儀

▲電解式測厚儀

數顯磁性測厚儀應用：

▲激光測厚儀是利用激光的反射原理，根據光切法測量和觀察機械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產品的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)測量儀器。它可直接輸出數字信號與工業(yè)計算機相連接，并迅速處理數據并輸出偏差值到各種工業(yè)設備。

▲X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工業(yè)計算機為核心，采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng)，達到要求的軋制厚度。主要應用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工.

紙張測厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。

▲薄膜測厚儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數據輸出、任意位置置零、公英制轉換、自動斷電等特點。

▲涂層測厚儀：用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。

▲超聲波測厚儀：超聲波測厚儀是根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內部傳播的各種材料均可采用此原理測量。

數顯磁性測厚儀用途：

該測厚儀測定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度的測定。

數顯磁性測厚儀參數：

▲測量范圍： O-200μm。

▲執(zhí)行標準： GB/T1764-89 、GB/T13452.2-92 、ISO2808-74。

▲測量精度：±（ 0.7μm 3%H ）*H為標準厚度。

GT810F數顯磁性測厚儀簡介：

該儀器是磁性便攜式覆層測厚儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現(xiàn)場。本儀器能廣泛地應用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域。是材料保護專業(yè)*的儀器。Fe質探針可檢測所有非磁性涂層厚度，例如涂在鋼、鐵上的漆、粉末涂層、塑料、瓷、鉻、銅、鋅等。采用了磁感應測厚方法，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度；可采用兩種方法對儀器進行校準,并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正；操作過程有蜂鳴聲提示；電池電壓指示：低電壓提示；自動關機。

參數：

▲使用環(huán)境：溫度：0-40℃ 濕度：10-85%RH。

▲準確度：±（1.5～3%h）或±2um。

▲公制/英制：可轉換。

▲電源：2節(jié)5號電池。

▲儀器尺寸：02mm×66mm×24mm。

▲重量：99g（含電池）。

▲測量范圍：0-1250um （標準量程） 。

▲分辨率：0.1/1。

▲zui小曲面:F: 凸 5mm/ 凹 5mm。

▲zui小測量面積：10mm。

▲zui薄基底：0.3mm。