掃描電鏡是一種用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測和分析的儀器。它能夠提供高分辨率的圖像，幫助科學(xué)家和工程師了解樣品的微觀結(jié)構(gòu)和特性。

一、掃描電鏡的一般測量功能

1. 微觀形貌觀測

掃描電鏡可以清晰地觀察到樣品表面的微觀形貌，如顆粒的形狀、大小、分布等。它能夠分辨出納米尺度的特征，對(duì)于研究材料的微觀結(jié)構(gòu)變化、表面粗糙度等方面具有重要意義。

例如在材料科學(xué)領(lǐng)域，通過掃描電鏡可以觀察到金屬材料的晶粒結(jié)構(gòu)、陶瓷材料的孔隙結(jié)構(gòu)以及高分子材料的相分離情況等。

2. 元素分析

一些掃描電鏡配備了能譜儀等附件，可以對(duì)樣品表面進(jìn)行元素分析。它能夠確定樣品中所含元素的種類和相對(duì)含量，有助于了解材料的化學(xué)成分和組成。

二、CEM3000臺(tái)式掃描電鏡的特點(diǎn)

1. 緊湊的外型與良好的空間適用性

CEM3000系列臺(tái)式掃描電鏡整機(jī)經(jīng)過深入優(yōu)化，具有緊湊的外型。它無需占據(jù)大量空間來容納整個(gè)電鏡系統(tǒng)，甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實(shí)時(shí)呈現(xiàn)所得結(jié)果。

它還可以進(jìn)入手套箱、車廂還是潛水器等狹小空間內(nèi)大顯身手。這種良好的空間適用性使得它在不同的工作環(huán)境中都能方便使用。

2. 高分辨率

CEM3000系列電鏡具有出色的電子光學(xué)系統(tǒng)，優(yōu)于4nm的空間分辨率（SE），保證了高放大倍數(shù)下的清晰成像，能夠滿足納米尺度的形貌觀測需求。無論是觀察納米材料的微觀結(jié)構(gòu)，還是對(duì)微小生物樣本進(jìn)行研究，都能提供清晰準(zhǔn)確的圖像。

3. 快速抽放氣與可選配低真空系統(tǒng)

該系列臺(tái)式電鏡采用了快速抽放氣設(shè)計(jì)，縮短了用戶抽放氣的等待時(shí)間。同時(shí)，全系列可選配低真空系統(tǒng)，用戶可以任意設(shè)定電鏡工作時(shí)的倉內(nèi)真空度（倉內(nèi)真空度可達(dá)100Pa），以滿足不同類型樣品的觀測需求。例如，對(duì)于一些易揮發(fā)或?qū)φ婵窄h(huán)境要求不高的樣品，可以通過調(diào)節(jié)低真空系統(tǒng)來更好地進(jìn)行觀測。

4. 高易用性

CEM3000系列臺(tái)式掃描電鏡操作簡便，具有自動(dòng)調(diào)節(jié)功能。用戶可借助自動(dòng)調(diào)節(jié)功能，無需過多人工調(diào)節(jié)，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。樣品一鍵裝入，自動(dòng)導(dǎo)航和一鍵出圖能力（自動(dòng)聚焦+自動(dòng)消像散+自動(dòng)亮度對(duì)比度）幫助用戶在短短幾十秒內(nèi)就可獲取高清圖像，大大提升了使用效率。

5. 大樣品倉（CEM3000A）與高抗振防磁性能

CEM3000A在保證較小外型尺寸同時(shí)，具有比肩立式電鏡的大倉室，從而容納更大尺寸樣品。這對(duì)于一些需要分析大尺寸樣品或多個(gè)常規(guī)尺寸樣品的用戶來說非常方便。

全系列電鏡均具有優(yōu)秀的抗干擾能力，特別是CEM3000B使用本公司技術(shù)，基于復(fù)合抗振手段，將掃描電鏡抗振性能提升到了新的高度。無論是在高樓的實(shí)驗(yàn)室，還是有一定振動(dòng)的生產(chǎn)車間等非常規(guī)電鏡使用環(huán)境，CEM3000系列臺(tái)式電鏡都可憑借其強(qiáng)大的抗振性能輕松應(yīng)對(duì)，大展身手。

6. 多種探頭搭配與豐富的定制功能

該系列電鏡標(biāo)配高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭，并且可選配能譜儀等探頭，能夠?qū)悠愤M(jìn)行多種手段的分析。同時(shí)，根據(jù)特定行業(yè)的需求，定制了自動(dòng)化的顆粒度統(tǒng)計(jì)、孔隙率測量等選配功能，還可根據(jù)用戶需求提供全自動(dòng)軟件定制服務(wù)，滿足不同用戶的多樣化需求。

CEM3000系列臺(tái)式掃描電鏡在微觀形貌觀測和元素分析等方面具有出色的性能，同時(shí)其緊湊的外型、良好的空間適用性、高易用性等特點(diǎn)使其在眾多領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用前景。