愛(ài)安德分享半導(dǎo)體曝光設(shè)備的應(yīng)用
愛(ài)安德分享半導(dǎo)體曝光設(shè)備的應(yīng)用
半導(dǎo)體曝光裝置用于包含MOS(金屬氧化物半導(dǎo)體)、FET(場(chǎng)效應(yīng)晶體管)等半導(dǎo)體元件的IC(集成電路)的制造工序中的曝光工序。
在IC制造過(guò)程中,在硅晶片上依次重復(fù)光刻和蝕刻循環(huán),并且在將氧化硅、金屬等層層壓并加工成預(yù)定圖案的過(guò)程中,半導(dǎo)體元件所需的特性被加工為執(zhí)行得如此,它已經(jīng) .例如,在n型MOS(NMOS)的情況下,在p型硅基板的柵極區(qū)域上形成氧化硅膜和柵極金屬,并且將高濃度的雜質(zhì)離子注入到漏極和源極中。這形成了n型(n+型)MOS。這一系列工序中的光刻工序和蝕刻工序如圖所示地構(gòu)成(成膜工序S1~抗蝕劑剝離工序S6)。
其中,曝光工序(S3)使用半導(dǎo)體曝光裝置來(lái)進(jìn)行。根據(jù)電路圖案的尺寸和半導(dǎo)體元件的精度,使用不同的曝光設(shè)備波長(zhǎng)。
相關(guān)產(chǎn)品
免責(zé)聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來(lái)源:化工儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用,并注明“來(lái)源:化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來(lái)源(非化工儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀(guān)點(diǎn)和對(duì)其真實(shí)性負(fù)責(zé),不承擔(dān)此類(lèi)作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí),必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來(lái)源,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問(wèn)題,請(qǐng)?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。