什么是熒光X射線分析儀？

X射線熒光光譜儀是利用X射線熒光（XRF）用短波長X射線照射材料，測量產(chǎn)生的特征X射線來測定材料的化學成分的一種分析設備。

熒光X射線光譜儀可以以數(shù)ppm的靈敏度檢測特定元素，并在不損壞測量目標的情況下快速進行主成分的定量分析。分析設備的類型多種多樣，從大型、高靈敏度和精確的設備到可以隨身攜帶并在幾秒鐘內(nèi)完成分析的便攜式設備，您可以選擇

您的目的的設備。

熒光X射線分析儀的應用

由于X射線熒光光譜儀可以輕松檢測金屬元素，因此常用于檢測產(chǎn)品中的異物以及確定重金屬造成的環(huán)境污染。此外，由于可以一次分析所有可測量的元素，因此非常適合分析成分未知的物質的組成，并廣泛應用于各種研究和調查。

非熟練技術人員也可以使用，并且分析樣品的制備很容易或不需要。 X 射線熒光分析具有許多應用，因為它可以非破壞性、快速且輕松地進行化學分析。

關注速度的分析示例如下。

• 土壤、工業(yè)廢棄物、回收產(chǎn)品等中含有的有害元素檢測

• 電子材料及元件中的雜質分析

• 金屬材料、巖石、礦石、水泥、玻璃等成分分析

• 植物中金屬、磷、硫等分析

• 食品和食品容器中的異物或殘留添加劑分析

利用無損分析優(yōu)勢的應用如下。

• 珠寶、藝術品、文化財產(chǎn)、考古發(fā)掘、證據(jù)等鑒定

• 機場和海關的行李檢查 

熒光X射線分析儀的特點

優(yōu)點

X射線熒光光譜儀可以在短時間內(nèi)同時測量幾乎所有比鎂重的元素。可以對固體和液體進行無損分析，如果使用手持設備，則可以隨身攜帶它到任何地方，只需將設備壓在待分析物體上幾秒鐘即可完成測量。

缺點

X射線熒光光譜儀不擅長檢測輕元素，不適合分析有機物的主要構成元素氫、碳、氮、氧。此外，只能測量元素的存在和數(shù)量，但不可能確定元素的組合。

例如，如果檢測到鐵，則無法確定它是金屬鐵還是氧化鐵，因此即使檢測到鉀和氯，也無法斷定存在

X熒光分析儀的類型

在X射線熒光分析中，物質中所含的每種元素都會產(chǎn)生多種特征X射線，因此需要一種裝置使用適當?shù)姆椒▽⑺鼈兎蛛x并分別測量它們的強度。根據(jù)檢測 X 射線的方法，有兩種類型的設備。它們是波長色散 (WDX) 和能量色散 (EDX)。

1.波長色散裝置

這是一種使用分光元件將 X 射線分離成波長并將其引導至探測器的設備。該探測器僅測量目標特征X射線的強度，具有高波長分辨率和優(yōu)異的測量靈敏度和精度。

然而，測量樣品的表面必須光滑，并且分光元件和探測器必須精確旋轉，使得設備大型且昂貴。

2、能量分散裝置

熒光X射線直接進入探測器，接收到的信號在設備內(nèi)部進行電處理以探測特征X射線。盡管分辨率、靈敏度和準確度不如波長色散類型，但它們需要的分析時間更少，更容易處理，而且更便宜。另外，由于易于小型化，即使表面凹凸也能進行測量，因此有手持式等多種產(chǎn)品在銷售。

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