大家在日常使用高頻介電常數(shù)介損的時(shí)候不熟悉具體如何操作的，下面我來(lái)為大家介紹一下：

1平板電容器動(dòng)極片       2 平板電容器定極片   

3 有棘輪測(cè)力功能的調(diào)節(jié)桿，當(dāng)二電極夾持樣品具有一定壓力時(shí)，棘輪會(huì)發(fā)出“咯咯”聲，表明壓力合適。   

4 高電平接插件      5 低電平接插件       6 ON/OFF---SET 鍵

7 ABS/INC---UNIT 鍵     8 數(shù)據(jù)輸出鍵  

9 RS232數(shù)據(jù)輸出口（LCD屏背面）  10 電池蓋（LCD屏背面）

把被測(cè)樣品用鉗子置于平板電容器的動(dòng)極片（1）和定極片（2）之間，調(diào)節(jié)平板電容器的測(cè)微頭，到二極片夾住樣品止。這時(shí)數(shù)顯測(cè)微頭顯示的數(shù)值即為樣品厚度（ta）。為消除樣品和極片之間間隙，可轉(zhuǎn)動(dòng)樣品多次測(cè)量，樣品厚度以最小值為準(zhǔn)，如樣品有雙層金屬薄膜，計(jì)算ta要減去2倍薄膜厚度.。

4.5.4 調(diào)節(jié)Q表的調(diào)諧電容器，使其諧振，此時(shí)讀取Q值記為Q1，調(diào)諧電容的刻度記為C1。

4.5.5 松開(kāi)平板電容器極片，取出被測(cè)樣品，然后平板電容器仍在置于有樣品時(shí)的實(shí)際厚度值（ta），保持極片實(shí)際距離和有樣品時(shí)一致。

4.5.6 再次調(diào)節(jié)Q表的調(diào)諧電容器，再次諧振，此時(shí)讀取的Q值為Qo（Qo總是比Q1高，對(duì)優(yōu)質(zhì)絕緣材料，二者較接近，要仔細(xì)調(diào)諧,要使用Q表的“Q記憶”功能。調(diào)諧電容的刻度記為C0（C0總是比C1大）對(duì)低介電常數(shù)材料，電容值變化較小，要仔細(xì)讀取電容變化值。使用WY2852DQ表時(shí)要使用△C功能，當(dāng)然使用WY2852A或WY2853A型自動(dòng)Q表則得到更精確的電容變化值，因?yàn)樽詣?dòng)Q表提高了電容值刻度讀數(shù)的分辯率，提高測(cè)試ε正確度。

4.5.7試樣的損耗因數(shù)計(jì)算公式為：

注意：在操作中要十分注意樣品的清潔，要戴手套或用鑷子取放樣品。

下面推薦一種能提高測(cè)試精確性的方法：準(zhǔn)備二片厚0.05mm的圓形錫膜或鋁膜。直徑和平板電容器極片一致，錫膜兩面均勻地涂上一層薄薄的凡士林，它起粘附作用，又能排除接觸面之間殘余空氣。然后把錫膜再粘在被測(cè)樣品上或平板電容器兩個(gè)極片上，粘好后要仔細(xì)平整，使平面呈鏡面狀為佳。

4.4 測(cè)試前準(zhǔn)備：

先要詳細(xì)了解本裝置配用Q表的使用方法，操作時(shí)，要避免人體感應(yīng)的影響，即調(diào)節(jié)本裝置時(shí)，手臂盡可能離開(kāi)本裝置。

4.4.1檢查測(cè)試裝置二極片平行度。

a) 本測(cè)試裝置的動(dòng)極片和定極片的平行度應(yīng)優(yōu)于0.02mm。也可以測(cè)量二極片之間的電容量來(lái)檢查，當(dāng)測(cè)試裝置測(cè)微頭置于0.02mm時(shí)，用數(shù)字電橋測(cè)得電容值300-500 pF之間即認(rèn)為符合平行度要求。

b) 本測(cè)試裝置在出廠前已完成平行度測(cè)試。裝置如長(zhǎng)期不用或受到?jīng)_擊等原因，需要重新返廠調(diào)整，用戶不得擅自調(diào)整。本裝置底部有三個(gè)調(diào)節(jié)螺釘，但一定要具備相應(yīng)設(shè)備才能進(jìn)行，否則會(huì)損壞本裝置。

4.4.2檢查Q表是否正常工作

a ) 將250-350μH電感器（一般先用250μH），接在Q表“Lx”接線柱上。

b) 頻率調(diào)至1MHz。

c ) 微調(diào)電容器置于“0pF”處（只有WY2852D，WY2851D 有微調(diào)電容），調(diào)節(jié)Q表調(diào)諧電容器，使其諧振，Q值應(yīng)指示在180左右，調(diào)諧電容值刻度在100pF附近，表示Q表處于正常工作狀態(tài)。

4.5 國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006，推薦Q表法測(cè)試絕緣材料的介質(zhì)損耗因數(shù)和介電常數(shù)程序：

4.5.1 先完成4.3和4.4條規(guī)定的測(cè)試前準(zhǔn)備基礎(chǔ)上進(jìn)行正常測(cè)試。

4.5.2 把本測(cè)試裝置WY916D插到Q表測(cè)試回路的“Cx”二個(gè)端子上（如下圖）。先調(diào)節(jié)測(cè)微頭（3），使二個(gè)極片相接觸，快速按ABS/INC鍵

1 概述

介質(zhì)損耗測(cè)試裝置和GDAT系列Q表（最佳Q表是WY2852A或W自動(dòng)Q表）及電感器配用。能對(duì)絕緣材料進(jìn)行高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)的測(cè)試。它符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006，GB/T 1693-2007，美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

2 工作特性

2.1 平板電容器：

2.1.1極片尺寸：

916D-38: φ38mm。

916D-50 φ50 mm。

2.1.2 極片間距可調(diào)范圍和分辨率：

≥7mm，±0.001mm

2.2 裝置插頭間距：

25mm±1mm

2.3 裝置損耗角正切值：

≤4×10-4（1MHz時(shí)）

2.4 使用環(huán)境濕度要求※（非常重要）：

相對(duì)濕度:<60%

3 工作原理

本測(cè)試裝置是由二塊圓形電極片組成平板電容器。平板電容器一般用來(lái)夾被測(cè)樣品。平板狀的絕緣材料的損耗角正切值和介電常數(shù)是通過(guò)被測(cè)樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品的Q表Q值顯示變化量的大小以及調(diào)諧電容值變化。同時(shí)，由平板電容器的數(shù)字測(cè)微頭測(cè)得樣品厚度而換算得到ε和tanδ值。自動(dòng)Q表的機(jī)內(nèi)計(jì)算機(jī)會(huì)自動(dòng)計(jì)算并顯示于彩屏上。

測(cè)量誤差主要來(lái)自二次指示器的標(biāo)定刻度，以及在連線中尤其是在可變電容器和試樣的連線中所引入的阻抗。

4.7 其他應(yīng)用使用方法：

使用本測(cè)試裝置和Q表配用，對(duì)絕緣材料以及其它高阻性能的薄材，例如：優(yōu)質(zhì)紙張、優(yōu)質(zhì)木材、粉壓片料等，進(jìn)行相對(duì)測(cè)量。其測(cè)試方法就非常簡(jiǎn)便、實(shí)用。采取被測(cè)樣品和標(biāo)準(zhǔn)樣品相比較方法，就能靈敏地區(qū)別二者之間的細(xì)微差別，例如含水量，配用原料變動(dòng)等等。

測(cè)試時(shí)先把標(biāo)準(zhǔn)樣品放入平板電容器，調(diào)節(jié)Q表頻率，諧振后讀得Q值。再換上被測(cè)樣品，調(diào)節(jié)Q表調(diào)諧電容器，再諧振，看Q值變化，如Q值變化很小，說(shuō)明標(biāo)準(zhǔn)樣品和被測(cè)樣品高頻損耗值一致，反之，說(shuō)明二者性能有區(qū)別。

5 維修方法

本測(cè)試裝置是由精密機(jī)械構(gòu)件組成的測(cè)微設(shè)備，所以在使用和保存時(shí)要避免振動(dòng)和碰撞，要求在不含腐蝕氣體和干燥的環(huán)境中使用和保存，平時(shí)不使用最好在干燥瓶中存放。用戶不能自行拆裝。否則其工作性能就不能保證，如測(cè)試夾具受到碰撞，或者作為定期檢查。要驗(yàn)測(cè)以下幾個(gè)指標(biāo)：

5.1 平板電容器二極片平行度不超過(guò)0.02mm。

5.2 保證測(cè)微桿0.01mm分辨率。

5.3裝置損耗角正切值：≤4×10-4（1MHz時(shí)）

6 本公司主要產(chǎn)品介紹

6.1 高頻Q表系列

WY2851/A/D:0.05～50MHz,WY2852A/D型：1kHz～70MHz,WY2853A/D：0.05～160MHz

6.2  電視圖像信號(hào)發(fā)生器系列：

6.3 信號(hào)源系列,

6.4 毫伏表系列,

6.5 函數(shù)信號(hào)源，低頻信號(hào)源頻率計(jì)和LCR數(shù)字電橋系列等。