點(diǎn)衍射干涉儀的精度檢驗(yàn)方法
點(diǎn)衍射干涉儀(Point Diffraction Interferometer,PDI)是一種基于衍射干涉原理的光學(xué)測(cè)量設(shè)備。它利用激光束小孔后產(chǎn)生接近理想的點(diǎn)光源對(duì)物體表面進(jìn)行測(cè)量,可以實(shí)現(xiàn)對(duì)物體形狀、表面粗糙度、折射率等參數(shù)的高精度測(cè)量。點(diǎn)衍射干涉儀不需要標(biāo)準(zhǔn)參考件,可以用于超高精度面型的檢測(cè),是一種非常重要的高精度測(cè)量?jī)x器。
1.1測(cè)試光路
測(cè)試系統(tǒng)主要由D7點(diǎn)衍射干涉儀主機(jī),準(zhǔn)直器,5mm口徑鋁鏡,光學(xué)平臺(tái)等構(gòu)成。
1.2 測(cè)試環(huán)境
溫度: 21℃±1℃;
濕度: 30%-70%
1.3 絕 對(duì)精度檢測(cè)(Accuracy)
絕 對(duì)精度的檢測(cè)采用波前均方根差(wavefront RMS differential ,WRMSD)的計(jì)算方法,WRMSD是干涉儀穩(wěn)定性和測(cè)量有效性的嚴(yán)格標(biāo)準(zhǔn)。它定義為所有測(cè)量波前差異的均方差加上2X均方差的測(cè)量集,并定義為所有測(cè)量波前的平均值的綜合參考。
測(cè)試步驟:
1) 測(cè)試部分從0°開始繞光軸以45°步長旋轉(zhuǎn)8次進(jìn)行測(cè)量。旋轉(zhuǎn)是必要的,以排除測(cè)量系統(tǒng)設(shè)置引起的所有旋轉(zhuǎn)不對(duì)稱像差。
2) 測(cè)試部分從22.5°開始繞光軸以45°步長旋轉(zhuǎn)8次進(jìn)行測(cè)量。
3) 在沒有平滑的情況下處理干涉圖后,從0°開始的8個(gè)波前進(jìn)行平均計(jì)算,得到平均波前WF0AVG_0,然后從22.5°開始的8個(gè)波前也進(jìn)行平均計(jì)算,得到平均波前WF0AVG_225。
4) 計(jì)算WF0AVG_0和WF0AVG_225的差異,得到絕 對(duì)精度。
上海昊量光電設(shè)備有限公司銷售的點(diǎn)衍射干涉儀,型號(hào)D7在客戶現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行了干涉儀精度的檢測(cè),實(shí)驗(yàn)測(cè)得該干涉儀的精度為0.707nm RMS 。
圖1 絕對(duì)精度檢測(cè)結(jié)果
1.4 重復(fù)精度檢測(cè)(Repeatability)
重復(fù)精度的檢測(cè)采用波前均方根差(wavefront RMS differential ,WRMSD)的計(jì)算方法。對(duì)如下圖2的波前進(jìn)行重復(fù)性測(cè)量,共計(jì)測(cè)量30組,每組測(cè)量5次。選取1,3,5,7…29奇數(shù)組的數(shù)據(jù)進(jìn)行平均,得到平均波前WF0AVG_29,選取2,4,6,8…30偶數(shù)組的數(shù)據(jù)進(jìn)行平均,得到平均波前WF0AVG_30。計(jì)算WF0AVG_0和WF0AVG_225的差異,得到重復(fù)精度。
上海昊量光電設(shè)備有限公司銷售的愛沙尼亞Difrotec公司的點(diǎn)衍射干涉儀的重復(fù)精度,經(jīng)過測(cè)量計(jì)算,重復(fù)精度為:0.25nm RMS(λ/2500),如下圖3。
圖2 鋁鏡面型3D圖
圖3 重復(fù)精度檢測(cè)結(jié)果
1.5 干涉儀系統(tǒng)配置
D7:點(diǎn)衍射干涉儀主機(jī);DA1:150mm/230mm準(zhǔn)直器
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