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半導體測試是半導體生產(chǎn)過程中的重要環(huán)節(jié)，其測試設備包括測試機、分選機、探針臺。作為半導體封測行業(yè)三大設備之一，探針臺主要應用于半導體行業(yè)以及光電行業(yè)的晶圓、芯片等器件的測試，研發(fā)難度大，國產(chǎn)化率低，進口依賴度高，它的品質(zhì)和精度直接決定測試可靠性與否。
探針臺廣泛應用于復雜、 高速器件的精密電氣測量，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。主要是為半導體芯片的電參數(shù)測試提供一個測試平臺，探針臺可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個可調(diào)測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。
位移探針臺可以在測試準備和測試過程中準確移動探針位置，實現(xiàn)微米級別的電極接觸；同時探針前端可調(diào)整角度和長度，從而適應樣品范圍更加廣泛。
探針臺可以固定晶圓或芯片，并精確定位待測物。手動探針臺的使用者將探針臂和探針安裝到操縱器中，并使用顯微鏡將探針*端放置到待測物上的正確位置。一旦所有探針*端都被設置在正確的位置，就可以對待測物進行測試。
本公司提供的位移探針臺廣泛應用于半導體、生命科學、食品研究、藥物研發(fā)、地質(zhì)分析、高分子聚合物、航空航天、冶金、液態(tài)晶體、生物學等各種研究領(lǐng)域。
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