現(xiàn)在市場(chǎng)上測(cè)試的一些材料表面無法加工甚至不可能加工至非常光滑，兩面也無法做到平行度非常好，這樣用接觸法測(cè)試這種材料的介電常數(shù)由于有空氣間隙的將會(huì)存在非常大的誤差，如果要求測(cè)試這種材料頻率從20Hz~40MHz幾乎不可能，測(cè)試樣品舉例如下面幾幅圖片。

用非接觸法測(cè)試上述這些材料的介電常數(shù)，不進(jìn)對(duì)材料的表面的粗糙度還有兩個(gè)面的平行度的要求不是特別高，測(cè)試的準(zhǔn)確度高。

理論上的可行性：

用非接觸法測(cè)試材料的介電常數(shù)

其中：

Cg：沒有被測(cè)物體，兩個(gè)電極板之間的電容

Cm：有被測(cè)物體，兩個(gè)電極板之間的電容

Dg：沒有被測(cè)物體，兩個(gè)電極板形成電容的損耗

Dm：有被測(cè)物，兩個(gè)電極板行程電容的損耗

tg：電極板之間的空氣間隙厚度

tm：材料的厚度

測(cè)試夾具：

WK 1J1020 測(cè)試夾具配合穩(wěn)科 6500B系列精密阻抗分析儀或者在穩(wěn)科 6500P 高頻 LCR 表上使用，最高頻率可達(dá) 40MHz。夾具設(shè)計(jì)用于夾持平面圓盤狀材料，材料的直徑不小于 38mm，厚度不大于 15mm。1020 夾具的兩端電極之間的間距是可調(diào)整的，并通過千分尺測(cè)量，夾具圖片如下圖。

配合1J1020的測(cè)試軟件：

在WK 6500B（P）有軟件選配項(xiàng)/K是專門用于測(cè)試材料介電常數(shù)和磁導(dǎo)率的軟件，可以通過此軟件進(jìn)行設(shè)定相關(guān)參數(shù)，在儀表上可以直接讀出材料的介電常數(shù)或者繪制材料的介電常數(shù)曲線，軟件的界面如下圖。

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