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鍍層測(cè)厚儀是一種便攜式測(cè)厚儀，可測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。既可用于實(shí)驗(yàn)室中的精密測(cè)量,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)廣泛地應(yīng)用在金屬制造業(yè)、化工業(yè)、航空航天、科研開(kāi)發(fā)等領(lǐng)域，是企業(yè)保證產(chǎn)品質(zhì)量、商檢測(cè)控不可少的檢測(cè)儀器。
鍍層測(cè)厚儀能快速、無(wú)損傷、精密地測(cè)量涂層、鍍層的厚度；可用于工程現(xiàn)場(chǎng)，也可用于實(shí)驗(yàn)室，通過(guò)不同探頭的使用，更可滿足多種測(cè)量需求；廣泛應(yīng)用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域；是材料保護(hù)測(cè)試的儀器。
鍍層測(cè)厚儀用磁性傳感器測(cè)量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層，例如：漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。用渦流傳感器測(cè)量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。
鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的第二次X射線的強(qiáng)度來(lái)。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆](méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí)，測(cè)量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
原理：
1、放射性測(cè)厚法：利用射線穿透檢測(cè)。此類(lèi)儀器價(jià)格貴。適用于一些特殊環(huán)境，各項(xiàng)技術(shù)參數(shù)要求相對(duì)比較高，使用范圍相對(duì)狹窄。
2、超聲波測(cè)厚法：利用超聲波頻率變化檢測(cè)。適用于多層涂層厚度的測(cè)量。一般價(jià)格昂貴，測(cè)量精度也不高，國(guó)內(nèi)暫時(shí)還沒(méi)有投入生產(chǎn)。
3、微波激光測(cè)厚法：正在研發(fā)中。
4、渦流測(cè)厚法：利用渦流原理檢測(cè)。適用于導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。也就是我們一般所說(shuō)的鋁基膜厚儀。
5、磁性測(cè)厚法：適用導(dǎo)磁是否會(huì)的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。也就是我們一般所說(shuō)的鐵基膜厚儀，這種方法測(cè)量結(jié)果精度高。
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