可視化晶體板內(nèi)部條紋檢測(cè)技術(shù)
一種在監(jiān)視器上目視觀(guān)察光學(xué)元件光學(xué)不均勻性的裝置
該檢查裝置是一種可視化晶體板和玻璃等透明物體內(nèi)部的條紋,以及表面上的拋光不均勻和拋光痕跡的裝置。非常適合檢查低通濾光片和藍(lán)色濾光片的晶體板。
在觀(guān)察到的圖像的背景中有一個(gè)微弱的斑點(diǎn)圖案。這是由于安裝的透鏡等光學(xué)元件的表面拋光,并干擾觀(guān)察。專(zhuān)用軟件“ClearBack”使背景清晰,便于檢查。在折射率變化的可視化裝置中有一種稱(chēng)為紋影法的觀(guān)察方法,但該裝置的觀(guān)察方法是陰影圖法。避免刀口干擾造成圖像模糊。
檢查方法 | shadowgraph 方法,顧名思義,就是一個(gè)“陰影圖片”。從點(diǎn)光源發(fā)出的光被一個(gè)鏡頭準(zhǔn)直,被下一個(gè)鏡頭會(huì)聚,然后被拍攝。這里,如果在兩個(gè)透鏡之間放置有條紋等缺陷的樣品,平行光會(huì)受到干擾,圖像會(huì)出現(xiàn)亮度不均勻的區(qū)域。 |
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觀(guān)察范圍 | 約φ45mm |
光源 | 高亮度藍(lán)色LED |
測(cè)量波長(zhǎng) | 450-465nm |
有效像素 | 1080(H)×824(V) |
調(diào)光功能 | 音量調(diào)光 |
外形尺寸(本體) | 水平(標(biāo)準(zhǔn))W1030 x D160 x H205mm 垂直(可選)W380 x D455 x H1245mm |
重量(身體) | 29公斤 |
憲法 | 機(jī)身/PC/電纜 |
配件 | 樣品架/機(jī)身蓋 |
選項(xiàng) | 立式支架(重量:10kg) |
使用環(huán)境 | 10 至 35 攝氏度 濕度 20 至 80%(非冷凝) |
顯示器最大分辨率 | 1920 x 1200(24 英寸寬) |
操作系統(tǒng) | 視窗 10(64 位) |
軟件 | 專(zhuān)用軟件“ClearBack” 通過(guò)校正不均勻的圖像亮度,使背景均勻,便于檢查缺陷。 |
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