1. 光電流密度Jp
在光電化學(xué)實(shí)驗(yàn)中經(jīng)常用到光電流密度等作為性能評(píng)價(jià)參數(shù)。
光電流密度是指在一個(gè)太陽光輻照下,光電極產(chǎn)生的光電流與光輻照面積之比。
通常由光吸收率、體相電子-空穴對(duì)分離效率以及表明電荷注入效率決定,隨外加偏壓變化而變化。
光電流密度可通過公式(1)表示[1]:
:實(shí)際測(cè)得的光電流密度;
:半導(dǎo)體光電有的理論光電流密度;
:半導(dǎo)體光電極的光吸收效率;
:半導(dǎo)體光電極的電荷分離效率;
:半導(dǎo)體光電極表面電荷注入效率。
同時(shí),光電轉(zhuǎn)換效率公式(2)
P0:光電極表面的入射光強(qiáng)度
由公式(2)可知,光電轉(zhuǎn)換效率η與光電流密度Jp成正比,而Jp不僅和光電極對(duì)光的吸收和利用率有關(guān),還與光生載流子的內(nèi)部和界面的分離效率有關(guān),內(nèi)部的分離效率和界面的分離效率都是決定光電化學(xué)性能的重要因素。
2. 光電流密度測(cè)試
在光電化學(xué)實(shí)驗(yàn)中經(jīng)常使用電化學(xué)工作站以線性伏安掃描技術(shù)(LSV)記錄光電極產(chǎn)生的光電流隨電壓的變化曲線(j-V曲線)。 為了確認(rèn)光電流是否來自于光電響應(yīng),通常會(huì)在開燈/關(guān)燈間隔條件下記錄斬波LSV曲線,但因?yàn)殡療艄庠词馨l(fā)光原理限制,無法實(shí)現(xiàn)頻繁開/關(guān)燈,為了實(shí)現(xiàn)開/關(guān)燈的效果,會(huì)在氙燈光源和光電極之間增設(shè)快門裝置。
圖1. PLS-FX300HU 高均勻性一體式氙燈光源、PFS40A 快門
圖2. Transient photocurrent density curves [2-5]
如圖2所示,當(dāng)沒有光照時(shí),光電極的電流密度幾乎為零,當(dāng)加入光照時(shí),電流瞬間升高,這就表明增加的電流是由于光照的引入而產(chǎn)生的,但是在電流升高時(shí)會(huì)有一個(gè)尖銳的峰,這可能是由于的導(dǎo)電性不好,光照產(chǎn)生的光生載流子迅速?gòu)?fù)合造成的。
瞬態(tài)光電流可用于評(píng)估光電極中光生電子-空穴分離的情況,光電流越大,分離效率越高。
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