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X射線粉末衍射儀的應(yīng)用領(lǐng)域和注意事項介紹
X射線粉末衍射儀適用性很廣，通常用于測量粉末、單晶或多晶體等塊體材料，并擁有檢測快速、操作簡單、數(shù)據(jù)處理方便等優(yōu)點。
X射線是一種電磁波,入射到晶體時在晶體中產(chǎn)生周期性變化的電磁場。引起原子中的電子和原子核振動,因原子核的質(zhì)量很大振動忽略不計。振動著的電子是次生X射線的波源,其波長、周相與入射光相同?；诰w結(jié)構(gòu)的周期性,晶體中各個電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之為衍射。散射波周相一致相互加強的方向稱衍射方向,產(chǎn)生衍射線。
X射線粉末衍射儀的應(yīng)用介紹：
1，判斷物質(zhì)是否為晶體。
2，判斷是何種晶體物質(zhì)。
3，判斷物質(zhì)的晶型。
4，計算物質(zhì)結(jié)構(gòu)的應(yīng)力。
5，定量計算混合物質(zhì)的比例。
6，計算物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)。
7，和其他專業(yè)相結(jié)合會有更廣泛的用途。
比如可以通過晶體結(jié)構(gòu)來判斷物質(zhì)變形，變性，反應(yīng)程度等
X射線粉末衍射儀使用的一些注意事項：
（1）固體樣品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必須平整，可以用幾塊粘貼一起。
（2）對于片狀、圓拄狀樣品會存在嚴(yán)重的擇優(yōu)取向，衍射強度異常，需提供測試方向。
（3）對于測量金屬樣品的微觀應(yīng)力（晶格畸變），測量殘余奧氏體，要求制備成金相樣品，并進行普通拋光或電解拋光，消除表面應(yīng)變層。
（4）粉末樣品要求磨成320目的粒度，直徑約40微米，重量大于5g。
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