JADE Standard—分析XRD數(shù)據(jù)得力工具
JADE
科學(xué)家信賴的產(chǎn)品
JADE
Scientist Trust XRD Applications
JADE智能化分析XRD數(shù)據(jù)
— 分析結(jié)果更快、更準(zhǔn)
- JADE采用啟發(fā)式方法自動(dòng)進(jìn)行分析,自動(dòng)檢測文件格式;
- JADE可自動(dòng)擬合背景、尋峰、鑒定物相以及標(biāo)定品質(zhì)因數(shù)(FOM);
- JADE可批量進(jìn)行Rietveld分析,分析結(jié)果可直接用于文章發(fā)表或?qū)W術(shù)報(bào)告;
- JADE提供新數(shù)據(jù)的檢索方法和數(shù)據(jù)分析方法,快速準(zhǔn)確提供分析結(jié)果;
- JADE可兼容大部分晶體學(xué)數(shù)據(jù)庫,包括PDF數(shù)據(jù)庫,Amc, CIF等,支持用戶自定義數(shù)據(jù)庫;
- JADE獨(dú)立于硬件制造商,專注于開發(fā)XRD數(shù)據(jù)分析應(yīng)用軟件;
- JADE可兼容所有衍射儀生成的文件格式,包括同步輻射、理學(xué),布魯克(Siemens),馬爾文帕納科(Philips), ARL賽默飛(Scintag),島津, Proto, XOS, X-Y格式以及其他格式的數(shù)據(jù);
- JADE對(duì)任何衍射儀測試的數(shù)據(jù)均可得到無偏見的分析結(jié)果,致力于追求準(zhǔn)確的、無偏見的XRD分析和結(jié)果;
JADE Standard(標(biāo)準(zhǔn)版)
JADE Standard在基礎(chǔ)版本上,有兩個(gè)可選功能模塊,即Search/Match(S/M,物相檢索)和Whole PatternFitting (WPF,全譜擬合,終身授權(quán),無需更新。結(jié)合PDF數(shù)據(jù)庫,是您分析粉末XRD數(shù)據(jù)的完美組合。
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