能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測(cè)量和材料分析的方法，可用來定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測(cè)量。無論是在實(shí)驗(yàn)室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中，這一方法都能完美勝任，并還可以與現(xiàn)代化設(shè)備一起發(fā)揮作用。

原理
X射線熒光分析基于以下物理現(xiàn)象：樣品材料中的原子由于受到初級(jí)X射線轟擊，從而失去內(nèi)層軌道中的某些電子。失去電子所留下的空穴會(huì)被外層電子來填補(bǔ)，在填補(bǔ)的過程中，會(huì)產(chǎn)生每個(gè)元素*的特征X射線熒光。接收器探測(cè)到該熒光射線后，便能提供樣品的材料組成等信息。

應(yīng)用
由于能量色散X射線熒光光譜法可以分析材料成分和測(cè)量薄鍍層及鍍層系統(tǒng)，因而應(yīng)用廣泛：
在電子和半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)里，測(cè)量觸點(diǎn)上薄金，鉑和鎳層厚度或痕量分析。
在鐘表和珠寶行業(yè)或采礦精煉工業(yè)中，精確分析貴金屬合金組分。
在質(zhì)量管控和來料檢驗(yàn)中，需要確保產(chǎn)品或零部件*材料設(shè)計(jì)規(guī)范。如在太陽(yáng)能光伏電池產(chǎn)業(yè)中，光伏薄膜的成分組成和厚度大小決定了光伏電池的效率。在電鍍行業(yè)中，則需要測(cè)量大批量部件的厚度。
對(duì)于電子產(chǎn)品的生產(chǎn)者和采購(gòu)者，檢驗(yàn)產(chǎn)品是否符合《限制在電子電氣產(chǎn)品中使用有害物質(zhì)的指令》（RoHS指令）也是十分關(guān)鍵的。
在玩具工業(yè)中，也需要有可靠的有害物質(zhì)檢測(cè)手段。
對(duì)于以上測(cè)量應(yīng)用，菲希爾的FISCHERSCOPE X-射線光譜儀都能完美勝任。