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溫度試驗(yàn)知識匯總高低溫試驗(yàn)箱

來源:東莞市賽思檢測設(shè)備有限公司   2019年12月02日 09:19  

高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)規(guī)格:

型號

SED-190

SED-330

SED-600

SED-1000

SED-1500

工作室尺寸

(W x D x H cm)

58×45×75

58×76×75

80×80×95

100×100×100

110×147×95

外箱尺寸

(W x D x H cm)

87×155×180

87×185×180

109×196×199

139×215×199

139×268×199

溫度范圍

0℃/-20℃/-40℃/-70℃~+100℃/+150℃/+180℃

溫度均勻度

≤2℃

溫度偏差

±2℃

溫度波動度

≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示

升降溫速率

升溫3℃/min,降溫 1℃/min

溫度控制器

雙通道溫濕度控制器(控制軟件自行開發(fā))

設(shè)備運(yùn)行方式

定值運(yùn)行、程序運(yùn)行

制冷系統(tǒng)

制冷壓縮機(jī)

進(jìn)口全封閉壓縮機(jī)

冷卻方式

風(fēng)冷(水冷選配)

安全保護(hù)措施

漏電、短路、超溫、電機(jī)過熱、壓縮機(jī)超壓、過載、過流

標(biāo)準(zhǔn)裝置

樣品架(兩套)、觀察窗、負(fù)載電源3組、電纜孔(左右Ø50引線孔各1個(gè)  )、腳輪

電源

AC380V  50Hz 三相四線+接地線

溫度對試件的影響
溫度相關(guān)試驗(yàn)是環(huán)境試驗(yàn)入門,包括高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、溫度變化試驗(yàn)。高低溫試驗(yàn)主要驗(yàn)證產(chǎn)品在極值溫度條件下是否發(fā)生變形或功能影響,是否可以正常運(yùn)作。溫度變化試驗(yàn)主要測試產(chǎn)品反復(fù)承受溫度極值的耐受力。
 
高溫條件下試件的失效模式
產(chǎn)品所使用零件、材料在高溫時(shí)可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象。
高溫環(huán)境對設(shè)備的主要影響有:
a. 填充物和密封條軟化或融化;
b. 潤滑劑粘度降低,揮發(fā)加快,潤滑作用減?。?br />c. 電子電路穩(wěn)定性下降,絕緣損壞;
d. 加速高分子材料和絕緣材料老化,包括氧化、開裂、化學(xué)反應(yīng)等;
e. 材料膨脹造成機(jī)械應(yīng)力增大或磨損增大。
 
低溫條件下試件的失效模式
產(chǎn)品所使用零件、材料在低溫時(shí)可能發(fā)生龜裂、脆化、可動部卡死、特性改變等現(xiàn)象。
低溫環(huán)境對設(shè)備的主要影響有:
 a. 使材料發(fā)硬變脆;
 b. 潤滑劑粘度增加,流動能力降低,潤滑作用減?。?br /> c. 電子元器件性能發(fā)生變化;
 d. 水冷凝結(jié)冰;
 e. 密封件失效;
 f. 材料收縮造成機(jī)械結(jié)構(gòu)變化。
 
溫度變化條件下試件的失效模式
 產(chǎn)品所使用零件、材料在溫度劇烈變化時(shí)可能發(fā)生機(jī)械故障、開裂、密封損壞、泄漏等現(xiàn)象。
溫度劇烈變化對設(shè)備的主要影響有:
a. 使部件裝配點(diǎn)或焊接點(diǎn)松動或脫落;
b. 使材料本身開裂;
c. 電子元器件性能發(fā)生變化;
d. 密封件失效造成泄漏;
 
非散熱試件和散熱試件
試件內(nèi)不產(chǎn)生熱量的為非散熱試件。在實(shí)驗(yàn)室可以采用以下較嚴(yán)格的定義:在沒有強(qiáng)迫空氣循環(huán)的自由空氣條件和試驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)大氣規(guī)定的氣壓(86-106kPa)下,試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后,試驗(yàn)樣品表面熱點(diǎn)溫度與環(huán)境溫度之差小于5℃的試驗(yàn)樣品。
若環(huán)境溫度不變時(shí),非散熱試件的熱流方向如下:在環(huán)境溫度較高時(shí),熱由環(huán)境大氣傳入試件;反之,熱由試件傳入周圍大氣。熱傳輸過程將不斷進(jìn)行直至試件各部分的溫度均達(dá)到周圍大氣溫度為止。此后熱傳輸過程停止。非散熱試件的后穩(wěn)定溫度是放置試驗(yàn)樣品試驗(yàn)箱的平均溫度。
 試件內(nèi)有熱量產(chǎn)生為散熱試件。較嚴(yán)格的定義為在沒有強(qiáng)迫空氣循環(huán)的自由空氣條件和試驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)大氣規(guī)定的氣壓(86-106kPa)下,試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后,試驗(yàn)樣品表面熱點(diǎn)溫度與環(huán)境溫度之差大于5℃的試驗(yàn)樣品。
散熱試件產(chǎn)生的熱量不斷向周圍環(huán)境大氣發(fā)散,直至試件產(chǎn)生的熱量與耗散在周圍大氣中的熱量相平衡,試件溫度達(dá)到穩(wěn)定。當(dāng)環(huán)境溫度上升或下降時(shí),試件內(nèi)部的溫度也將隨著一同上升或下降,直至達(dá)到新的平衡。散熱試件的后穩(wěn)定溫度需要進(jìn)行反復(fù)測量,當(dāng)試件的溫度每變化3℃后測量其間的時(shí)間間隔,當(dāng)相鄰兩段時(shí)間間隔之比大于1.7時(shí),認(rèn)為已達(dá)到溫度穩(wěn)定狀態(tài)。
 
產(chǎn)品
對于目前的產(chǎn)品來說,在未工作狀態(tài)產(chǎn)品本身不產(chǎn)生熱量,因此在試件未工作狀態(tài)進(jìn)行的溫度試驗(yàn)都可作為非散熱試件來處理。在工作狀態(tài)進(jìn)行溫度試驗(yàn)的產(chǎn)品目前主要有燃油泵,點(diǎn)火線圈,怠速調(diào)節(jié)器等。這些產(chǎn)品如在工作條件下進(jìn)行溫度試驗(yàn)都應(yīng)作為散熱試件。特別是點(diǎn)火線圈,工作時(shí)的發(fā)熱量較大,應(yīng)對其上的溫度進(jìn)行監(jiān)測。
 
試驗(yàn)區(qū)域空氣速度的影響
試驗(yàn)區(qū)域中空氣和試驗(yàn)樣品間的熱交換效率取決于空氣流動的速度。
對于非散熱試件,較高的空氣流動速度可以使試件各部分的溫度較快速的達(dá)到周圍空氣的溫度。一般在試驗(yàn)區(qū)域未擺放試件的情況下,空氣流動速度應(yīng)不低于2m/s。
對于散熱試件,試件樣品熱點(diǎn)的溫度高于周圍環(huán)境溫度時(shí),應(yīng)在無強(qiáng)迫空氣流動(自由空氣條件)的環(huán)境下進(jìn)行試驗(yàn),否則試件的溫度將被降低,從而減小試驗(yàn)的嚴(yán)酷程度。
 
試驗(yàn)區(qū)域中試件的擺放
多個(gè)樣品在同一試驗(yàn)箱進(jìn)行高溫實(shí)驗(yàn)時(shí),應(yīng)保證所有樣品都處在同一環(huán)境溫度下,并具有相同的安裝條件。對于散熱樣品而言,各個(gè)試件之間不能因輻射散熱而影響到其它試件,即試件間間隔應(yīng)足夠大,這樣對于單個(gè)試件來說,其他散熱試件輻射到其上的熱量所造成的溫度變化就很小,到可忽略的程度。對于非散熱試件,溫度保持不變的高溫或低溫試驗(yàn),試件間的間距可以不做要求,因?yàn)闇囟群愣ê笤嚰臏囟扰c溫度試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度保持一致,不發(fā)生熱量交換,試件間的間距對試驗(yàn)不會產(chǎn)生影響。非散熱試件的溫度變化試驗(yàn)試件間則應(yīng)該保持間隔,使試驗(yàn)件之間有足夠的空氣流動,加速試件與溫度試驗(yàn)箱之間的熱交換,使試件盡快達(dá)到試驗(yàn)的溫度。
 
試驗(yàn)持續(xù)的時(shí)間的確定
在化學(xué)中一條常用的規(guī)律是在高溫下反應(yīng)的速度要快一些。 這一規(guī)律被應(yīng)用到技術(shù)中,以便進(jìn)行加速試驗(yàn),這也被稱為阿侖尼斯方程。
阿侖尼斯關(guān)系從數(shù)學(xué)上的表示為:   
AF(T)=e^(EA/K)*(1/T實(shí)際– 1/T試驗(yàn)室)
式中數(shù)值:
AF= 加速度系數(shù)
Ea=激活能
K=玻爾茲曼常數(shù)(8.65×10-5ev/K) 
T實(shí)際=在實(shí)際負(fù)荷下的溫度(溫度)
T實(shí)驗(yàn)室=在實(shí)驗(yàn)室負(fù)荷下的溫度(溫度) 
為確定加速度系數(shù)激活能必須是已知的,對于一般的電子元件經(jīng)常采用的值是: Ea=0.44Ev 
( 在產(chǎn)品不工作時(shí)進(jìn)行的低溫或高溫實(shí)驗(yàn),試驗(yàn)的持續(xù)時(shí)間為試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定后,根據(jù)試驗(yàn)樣品的特點(diǎn)和試驗(yàn)?zāi)康拇_定。也可從下列等級中選?。?,16,72,96h。 t = t穩(wěn)定+ to (to由計(jì)算產(chǎn)生或=2,16,72,96h) 。

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