耐壓測(cè)試的基礎(chǔ)理論是將一個(gè)產(chǎn)品暴露在非常惡劣的環(huán)境之下，如果產(chǎn)品能夠在這種惡劣的環(huán)境之下還能維持正常狀況，就可以確定在正常的環(huán)境之下工作，也一定可以維持很正常的狀況。 zui常使用耐壓測(cè)試的情況為：

• 設(shè)計(jì)時(shí)的功能測(cè)試 – 確定所設(shè)計(jì)的產(chǎn)品能達(dá)到其功能要求的條件。
• 生產(chǎn)時(shí)的規(guī)格測(cè)試 – 確認(rèn)所生產(chǎn)的產(chǎn)品能達(dá)到其規(guī)格要求的標(biāo)準(zhǔn)。
• 品保時(shí)的確認(rèn)測(cè)試 – 確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量能符合安規(guī)的標(biāo)準(zhǔn)。
• 維修后的安全測(cè)試 – 確認(rèn)維修后的產(chǎn)品能維持符合安規(guī)的標(biāo)準(zhǔn)。

不同的產(chǎn)品有不同的技術(shù)規(guī)格，基本上在耐壓測(cè)試時(shí)是將一個(gè)高于正常工作的電壓加在產(chǎn)品上測(cè)試，這個(gè)電壓必須持續(xù)一段規(guī)定的時(shí)間。 如果一個(gè)零組件在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)，其漏電電流量亦保持在規(guī)定的范圍內(nèi)，就可以確定這個(gè)零組件在正常的條件下運(yùn)轉(zhuǎn)，應(yīng)該是非常安全。 而優(yōu)良的設(shè)計(jì)和選擇良好的絕緣材料可以保護(hù)使用者，讓他免予受到意外感電。

華儀電子安規(guī)測(cè)試儀器所做的耐壓測(cè)試，一般稱之為“高電壓介電測(cè)試”，簡(jiǎn)稱為“耐壓測(cè)試”。 基本的規(guī)定是以兩倍于被測(cè)物的工作電壓，再加一千伏特，作為測(cè)試的電壓標(biāo)準(zhǔn)。 有些產(chǎn)品的測(cè)試電壓可能高于2 X 工作電壓 + 1000 V。

例如有些產(chǎn)品的工作電壓范圍是從100V到240V，這類產(chǎn)品的測(cè)試電壓可能在1000V到4000V之間或更高。 一般而言，具有“雙絕緣”設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，其使用的測(cè)試電壓可能高于2 X工作電壓+ 1000 V的標(biāo)準(zhǔn)。

耐壓測(cè)試在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和樣品制作時(shí)比正式生產(chǎn)時(shí)的測(cè)試更為精密，因?yàn)楫a(chǎn)品在設(shè)計(jì)測(cè)試階段便已決定產(chǎn)品的安全性。 雖然在產(chǎn)品設(shè)計(jì)時(shí)只是用少數(shù)的樣品來(lái)作判斷，然而生產(chǎn)時(shí)的在線測(cè)試更應(yīng)嚴(yán)格要求所有的產(chǎn)品都必須能通過(guò)安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，可以確認(rèn)沒有不良品會(huì)流出生產(chǎn)線。

耐壓測(cè)試器的輸出電壓必須保持在規(guī)定電壓的100%到120%的范圍內(nèi)。AC耐壓測(cè)試器的輸出頻率必須維持在40到70Hz之間，同時(shí)其波峰值不得低于均方根(RMS)電壓值的1.3倍，并且其波峰值不得高于均方根(RMS)電壓值的1.5倍。

高壓測(cè)試能檢測(cè)出下列狀況

• 絕緣材料的絕緣強(qiáng)度太弱
• 絕緣體上有針孔
• 零組件之間的距離不夠
• 絕緣體被擠壓而破裂

耐壓測(cè)試的優(yōu)缺點(diǎn)

請(qǐng)先與受測(cè)試產(chǎn)品所的安規(guī)單位確認(rèn)該產(chǎn)品應(yīng)該使用何種電壓，有些產(chǎn)品可以同時(shí)接受直流和交流兩種測(cè)試選擇，但是仍然有多種產(chǎn)品只允許接受直流或交流中的一種測(cè)試。 如果安規(guī)規(guī)范允許同時(shí)接受直流或交流測(cè)試，制造廠就可以自己決定何種測(cè)試對(duì)于產(chǎn)品較為適當(dāng)。 為了達(dá)成此目地，使用者必須了解直流和交流測(cè)試的優(yōu)缺點(diǎn)。

交流耐壓(ACW)測(cè)試的特點(diǎn)

大部份做耐壓測(cè)試的被測(cè)物都會(huì)含有一些雜散電容量。 用交流測(cè)試時(shí)可能無(wú)法充飽這些雜散電容，會(huì)有一個(gè)持續(xù)電流流過(guò)這些雜散電容。

交流耐壓(ACW)測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)

1. 一般而言，交流測(cè)試比直流測(cè)試更容易被安規(guī)單位接受。 主因是大部份的產(chǎn)品都使用交流電，而交流測(cè)試可以同時(shí)對(duì)產(chǎn)品作正負(fù)極性的測(cè)試，與產(chǎn)品使用的環(huán)境*一致，合乎實(shí)際使用狀況。

2. 由于交流測(cè)試時(shí)無(wú)法充飽那些雜散電容，但不會(huì)有瞬間沖擊電流發(fā)生，因此不需讓測(cè)試電壓緩慢上升，可以一開始測(cè)試就全電壓加上，除非這種產(chǎn)品沖擊電壓很敏感。

3. 由于交流測(cè)試無(wú)法充滿那些雜散電容，在測(cè)試后不必對(duì)測(cè)試物作放電的動(dòng)作，這是另外一個(gè)優(yōu)點(diǎn)。

交流耐壓(AC)測(cè)試的缺點(diǎn)

1. 主要的缺點(diǎn)為，如果被測(cè)物的雜散電容量很大或被測(cè)物為電容性負(fù)載時(shí)，這樣所產(chǎn)生的電流，會(huì)遠(yuǎn)大于實(shí)際的漏電電流，因而無(wú)法得知實(shí)際的漏電電流。

2. 另外一個(gè)缺點(diǎn)是由于必須供應(yīng)被測(cè)物的雜散電容所需的電流，機(jī)器所需輸出的電流會(huì)比采用直流測(cè)試時(shí)的電流大很多。 這樣會(huì)增加操作人員的危險(xiǎn)性。

直流(DC)測(cè)試的特點(diǎn)

在直流耐壓測(cè)試時(shí)，被測(cè)物上的雜散電容會(huì)被充滿，直流耐壓測(cè)試時(shí)所造成的容性電流，在雜散電容被充滿后，會(huì)下降到趨近于零。

直流(DC)測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)

1. 一旦被測(cè)物上的雜散電容被充滿，只會(huì)剩下被測(cè)物實(shí)際的漏電電流。 直流耐壓測(cè)試可以很清楚的顯示出被測(cè)物實(shí)際的漏電電流。

2. 另外一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是由于僅需在短時(shí)間內(nèi)，供應(yīng)被測(cè)物的充電電流，其它時(shí)間所需供應(yīng)的電流非常小，所以機(jī)器的電流容量遠(yuǎn)低于交流耐壓測(cè)試時(shí)所需的電流容量。

直流(DC)測(cè)試的缺點(diǎn)

1. 除非被測(cè)物上沒有任何電容量存在，否則測(cè)試電壓必須由“零”開始，緩慢上升，以避免充電電流過(guò)大，電容量越大所需的緩升時(shí)間越長(zhǎng)，一次所能增加的電壓也越低。 充電電流過(guò)大時(shí)，一定會(huì)引起測(cè)試器的誤判，使測(cè)試的結(jié)果不正確。

2. 由于直流耐壓測(cè)試會(huì)對(duì)被測(cè)物充電，所以在測(cè)試后，一定要先對(duì)被測(cè)物放電，才能做下一步工作。

3. 與交流測(cè)試不一樣，直流耐壓測(cè)試只能單一極性測(cè)試，如果產(chǎn)品要使用于交流電壓下，這個(gè)缺點(diǎn)必須被考慮。 這也是大多數(shù)安規(guī)單位都建議使用交流耐壓測(cè)試的原因。

4. 在交流耐壓測(cè)試時(shí)，電壓的波峰值是電表顯示值的1.4倍，這一點(diǎn)是一般電表所不能顯示的，也是直流耐壓測(cè)試所無(wú)法達(dá)到的。 所以多數(shù)安規(guī)單位都要求，如果使用直流耐壓測(cè)試，必須提高測(cè)試電壓到相等的數(shù)值。

絕緣電阻測(cè)試(Insulation Resistance Test)

新設(shè)計(jì)的一些安規(guī)分析儀大都將絕緣電阻測(cè)試的功能含蓋在內(nèi)，基本上絕緣電阻測(cè)試功能必須提供一個(gè)500到1000VDC的電壓，同時(shí)電阻的量測(cè)范圍也必須可以由幾百KW量測(cè)到幾個(gè)GW。 這些功能可以讓產(chǎn)品的制造廠符合安全要求的規(guī)定，TUV和VDE等安規(guī)執(zhí)行單位在某些特定的產(chǎn)品會(huì)要求先做絕緣電阻的測(cè)試，然后才能執(zhí)行耐壓測(cè)試，這項(xiàng)規(guī)定目前大都被引用在產(chǎn)品設(shè)計(jì)所執(zhí)行的安規(guī)試驗(yàn)上。

絕緣電阻測(cè)試的基本理論與耐壓測(cè)試非常類似，耐壓測(cè)試的判定是以漏電流量為基準(zhǔn)，而絕緣電阻測(cè)試則以電阻值的形態(tài)作為判定依據(jù)，通常必須為多少M(fèi)Ω以上。

絕緣電阻測(cè)試接線圖

絕緣電阻值越高表示產(chǎn)品的絕緣越好。 絕緣電阻測(cè)試的接線方式與耐壓測(cè)試*相同，量測(cè)到的絕緣電阻值為兩個(gè)測(cè)之間以及其外圍連接在一起的各項(xiàng)關(guān)連網(wǎng)絡(luò)所形成的等效電阻值。

華儀電子的安規(guī)測(cè)試設(shè)備內(nèi)所含蓋的絕緣電阻測(cè)試功能，是一項(xiàng)獨(dú)立的測(cè)試功能，不會(huì)與耐壓測(cè)試的功能互相重迭，使用上更為簡(jiǎn)便。

接地電阻測(cè)試(Ground Continuity Test or Ground Bond Test)

接地阻抗測(cè)試為測(cè)試產(chǎn)品的接地點(diǎn)，對(duì)產(chǎn)品的外殼或金屬部份，施以一個(gè)恒流(一般電流在10-40A之間)電源來(lái)測(cè)試兩點(diǎn)間的阻抗大小，一般產(chǎn)品規(guī)定量測(cè)2，阻抗不得大于0.1Ω，而CSA則要求量測(cè)40A以此測(cè)試，可檢測(cè)出接地點(diǎn)螺絲未鎖緊、接地線徑太小、接地線斷路等問(wèn)題。

接地電阻測(cè)試接線圖

接地電阻測(cè)試的主要目的為確定被測(cè)物在故障的情況之下，安全接地線是否能承擔(dān)故障的電流流量，接地的電阻值必須越低越好，這樣才能確認(rèn)一旦產(chǎn)品發(fā)生故障時(shí)，在輸入的的電源開關(guān)尚未切斷電源以前，可以讓使用者免于感電的危險(xiǎn)和威脅。

產(chǎn)品電氣系統(tǒng)測(cè)試(RUN Test)

許多產(chǎn)品制造商希望產(chǎn)品在zui終的安規(guī)測(cè)試之后也能開機(jī)測(cè)試以便確認(rèn)產(chǎn)品的功能，除了測(cè)試產(chǎn)品的基本功能外，許多顧客也需要一些產(chǎn)品在測(cè)試時(shí)的基本數(shù)據(jù)。RUN TEST Module允許待測(cè)物(產(chǎn)品)在安規(guī)測(cè)試之后立刻提供電源給待測(cè)物，在待測(cè)物測(cè)試時(shí)并顯示電流、電壓、瓦特及功率因子之?dāng)?shù)值。

接觸電流測(cè)試(Touch Current Test)

接觸電流測(cè)試是諸多安規(guī)測(cè)試之中的一項(xiàng)測(cè)試，通常安規(guī)執(zhí)行單位、例如UL、CSA、IEC、BSI、VDE、TUV和JSI等會(huì)要求某些產(chǎn)品必須做這項(xiàng)測(cè)試。 接觸電流的測(cè)試規(guī)格視各種不同的產(chǎn)品而有很大的不同，產(chǎn)品應(yīng)用的場(chǎng)所和功能的不同，也會(huì)造成規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的差別。

電流泄漏電(Current Leakage)和接觸(Touch Current)測(cè)試為通稱的接觸電流測(cè)試條款，事實(shí)上可以被區(qū)分為三種不同的測(cè)試，分別為對(duì)地泄漏電電流(Earth Leakage Current)、對(duì)表面泄漏電流(Enclosure或Surface Leakage Current)和表面間泄漏電電流(Applied Part或Surface to Surface Leakage)。 主要的不同點(diǎn)在于測(cè)試棒所量測(cè)位置的不同而有所不同，對(duì)地泄漏電流為漏電電流經(jīng)由電源在線的接地線流回大地，而表面泄漏電流是由于人員觸摸機(jī)體時(shí)，泄漏電流經(jīng)由人體流回大地。 另外表面間泄漏電流或稱為治療泄漏電流(Patient Lead Leakage)則為任何應(yīng)用對(duì)象之間或流向應(yīng)用對(duì)象的泄漏電流，通常只有醫(yī)療儀器有這項(xiàng)測(cè)試的要求。 這些測(cè)試的主要目的為讓使用者在操作或手握應(yīng)用對(duì)象時(shí)非常安全，而不致于有感電傷害的危險(xiǎn)。

接觸電流測(cè)試接線圖

接觸電流測(cè)試模塊所提供的測(cè)試能力*符合UL 544、IEC 950、UL 1950、IEC 1010、UL 3101、IEC 601-1、UL 2601、UL1563和其它測(cè)試規(guī)格所規(guī)定的接觸電流測(cè)試規(guī)格的標(biāo)準(zhǔn)。 接觸電流測(cè)試為一種產(chǎn)品的泄漏電電流經(jīng)由一組人體仿真阻抗模型作為量測(cè)依據(jù)的測(cè)試，這個(gè)摸擬人體阻抗的電路被稱為“人體仿真阻抗模型(Measuring Device，MD)”。

人體仿真阻抗模型(MD)代表人體在不同情況之下的阻抗，而人體的阻抗由于人機(jī)接觸點(diǎn)的位置、面積和電流的流向而有所不同，基于上述這些理由，人體仿真阻抗模型規(guī)格的選擇必須依據(jù)要做何種測(cè)試以及所能允許的zui大泄漏電流量來(lái)決定。 產(chǎn)品泄漏電流的量測(cè)不但要做產(chǎn)品正常工作和異常時(shí)的量測(cè)，同時(shí)必須做電源極性反向時(shí)的量測(cè)，以避免當(dāng)產(chǎn)品在輸入電壓的高值(通常為輸入電壓額定值的110%)工作時(shí)，因異?；蚴褂貌划?dāng)而所引起的諸多問(wèn)題和危險(xiǎn)。

接觸電流測(cè)試通常規(guī)定產(chǎn)品在開發(fā)設(shè)計(jì)和驗(yàn)證時(shí)必須做這項(xiàng)測(cè)試，這樣可以確認(rèn)產(chǎn)品在設(shè)計(jì)時(shí)能夠符合規(guī)格的標(biāo)準(zhǔn)，但是這仍無(wú)法保證生產(chǎn)在線的每一個(gè)產(chǎn)品都能符合規(guī)格的要求，所以在生產(chǎn)在線生產(chǎn)的每個(gè)產(chǎn)品都必須做測(cè)試，才能*保證產(chǎn)品符合規(guī)格的要求。