“試驗(yàn)——改進(jìn)——再試驗(yàn)”,該方法就是把初步研制的產(chǎn)品,通過試驗(yàn),暴露產(chǎn)品的薄弱環(huán)節(jié),分析產(chǎn)品的失效模式和失效機(jī)理,找出問題就立即改進(jìn),然后再試驗(yàn)證實(shí)所解決的問題,使產(chǎn)品的可靠性得到增長。這種方法在電子產(chǎn)品的研制階段,通過系統(tǒng)試驗(yàn),暴露出產(chǎn)品薄弱環(huán)節(jié)之后,根據(jù)具體情況,立即進(jìn)行必要的改進(jìn)是能夠使產(chǎn)品的可靠性有大幅度的增長,這種方法比較適用于試驗(yàn)中只出現(xiàn)一種比較普遍和嚴(yán)重問題的情況,針對性較強(qiáng)。
電子產(chǎn)品在研制階段中,經(jīng)過系統(tǒng)的試驗(yàn),要根據(jù)暴露出的問題作具體分析,靈活應(yīng)用。可靠性試驗(yàn)中常用的三種方法往往是周而復(fù)始地循環(huán),并且一個(gè)循環(huán)比一個(gè)循環(huán)產(chǎn)品的可靠性水平向上增長,另外可靠性試驗(yàn)除通過系統(tǒng)試驗(yàn)外,還應(yīng)根據(jù)具體情況通過氣候環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)和人為正常使用等各方面的試驗(yàn)來暴露產(chǎn)品生產(chǎn)的薄弱環(huán)節(jié),進(jìn)行綜合的科學(xué)分析,做相應(yīng)的改進(jìn),使得電子產(chǎn)品在設(shè)計(jì)研制階段對其固有可靠性有進(jìn)一步的提高。
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