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高分子多層材料在很多領(lǐng)域都有著廣泛的應(yīng)用，而這些材料的結(jié)構(gòu)和成分也是多種多樣。高分子多層材料中每一層的厚度變化范圍很大，可以從不足4微米到幾十微米甚至更厚。作為研究這類材料的方法，顯微紅外光譜法得到了較多的應(yīng)用。

相比于其他顯微傅里葉變換紅外光譜分析方法，ATR光譜成像是一種具有更多優(yōu)勢的比較新穎的技術(shù)，在多層材料研究中將會非常有意義。本報告敘述了高分子多層材料的ATR光譜成像測量方法，為多層材料樣品的實際測量提供了一些操作建議。